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카테고리: 프로파일 측정 | 단차 높이 및 두께

 

투명 기판의 투명 필름 측정

나노베아 PS50 프로파일로미터는 투명 유리 기판의 얇은 투명 필름의 거칠기 측정, 스텝 높이 두께 및 광학 두께 측정에 사용됩니다. 스텝 높이는 필름의 면적과 기판이 노출된 면적의 상대적인 높이 차이를 측정하여 얻을 수 있으며, 광학 두께는 다음을 사용하여 측정합니다. 프로파일로메트투명 필름을 투과하여 측정하고 필름 상단 표면과 기판에서 반사되는 것을 동시에 감지할 수 있는 기능입니다.

3D 프로파일 측정법을 이용한 투명 기판의 투명 필름 측정

3D 프로파일 측정을 이용한 미세 스크래치 깊이 측정

이 애플리케이션에서 나노베아 ST400 프로파일로메트r은 다음 용도로 사용됩니다. 깊이 측정 Nanovea를 사용하여 만든 일련의 미세 스크래치 기계 테스터 스크래치 모드에서. 2D 모드에서 단일 라인을 통과하는 Profilometer는 몇 초 만에 면적과 깊이 측정을 제공합니다.

3D 프로파일 측정을 이용한 미세 스크래치 깊이 측정