소개
쿼츠 크리스탈 마이크로밸런스(QCM)는 나노그램 범위의 작은 질량을 정밀하게 측정할 수 있는 매우 민감한 질량 센서입니다. QCM은 플레이트 양쪽에 부착된 두 개의 전극으로 석영 결정의 공진 주파수 변화를 감지하여 표면의 질량 변화를 측정합니다. 극히 작은 무게도 측정할 수 있어 질량, 흡착, 밀도, 부식 등의 변화를 감지하고 모니터링하는 다양한 연구 및 산업 기기의 핵심 구성 요소로 사용됩니다.
QCM을 위한 스크래치 테스트의 중요성
매우 정확한 장치인 QCM은 질량 변화를 0.1 나노그램까지 측정합니다. 석영 플레이트에서 전극의 질량 손실이나 박리는 석영 결정에 의해 감지되어 상당한 측정 오류를 유발합니다. 따라서 전극 코팅의 본질적인 품질과 코팅/기판 시스템의 계면 무결성은 정확하고 반복 가능한 질량 측정을 수행하는 데 필수적인 역할을 합니다. 마이크로 스크래치 테스트는 고장이 나타나는 임계 하중의 비교를 기반으로 코팅의 상대적 응집력 또는 접착 특성을 평가하기 위해 널리 사용되는 비교 측정입니다. QCM의 신뢰할 수 있는 품질 관리를 위한 탁월한 도구입니다.