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Large Area Optical Profilometer – NANOVEA ST500

NANOVEA ST500 is a large area optical profilometer for non-contact surface measurement, designed for high-speed scanning of oversized samples.

Built on NANOVEA’s chromatic light technology, the ST500 delivers accurate 2D and 3D surface characterization with continuous scanning over extended travel ranges, making it ideal for applications where area coverage, speed, and measurement reliability are critical.

NANOVEA ST500 large area optical profilometer for high-speed non-contact surface measurement

400 mm @ 200 mm/s
連続スキャン

400 x 400 mmのX-Y軸移動で、最高速度200 mm/sを実現。超高速測定を実現します。
鮮明画像!

比類なき超高速スキャン

384,000点/秒

高品質 品質管理

完全プログラマブル...ナノメートル精度で品質管理と研究に必要な唯一のシステムです。

X - Y スキャンエリア

400 x 400 mm モータライズド

高さ範囲

nm to cm

卓上設置

97 x 72 x 92 cm

スキャン速度

200mm/s

プロフィロメトリー - クロマティックコンフォーカルセンサー技術
急角度に最適
広い面積を高速で処理
非常に使いやすい
鮮明画像
サンプル前処理なし
リフォーカスなし