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AR In-Line Profilometer
NANOVEA’s in-line profilometer solutions integrate non-contact chromatic light sensors directly into production lines, enabling real-time surface measurement and immediate process feedback.
Built on the same proven sensors used in NANOVEA’s laboratory profilometers, these systems deliver accurate 2D and 3D surface characterization – roughness, texture, geometry, and defect detection – without interrupting production.
MISURA IN SITU
E FEEDBACK IN TEMPO REALE
L'esclusivo software di NANOVEA fornisce misure e analisi di qualsiasi superficie in tempo reale con velocità di acquisizione di oltre 1.300.000 punti/sec.
Una delle sue numerose caratteristiche, i criteri Pass & Fail specifici per ogni sensore o la media di tutti i sensori, aiuta a identificare efficacemente i difetti superficiali derivanti dalla lavorazione dei materiali e dalla produzione dei prodotti.
INTRECCIATO
ISPEZIONE IN LINEA
CONTINUA
ISPEZIONE IN LINEA
È possibile installare più sensori di profilatura senza contatto per monitorare contemporaneamente la rugosità e la struttura di aree diverse. In grado di determinare la rugosità di un campione senza contatto,
La tecnologia a luce cromatica consente un'affidabile ispezione in linea della qualità della superficie del prodotto finale.
Ideale per gli angoli molto inclinati
Veloce per grandi aree
Molto facile da usare
Nessun stitching dell'immagine
Nessuna preparazione del campione
Nessuna rifocalizzazione
PROFILOMETRIA SENZA CONTATTO 2D E 3D
ALTA QUALITÀ CONTROLLO QUALITÀ
INTEGRAZIONE PERFETTA
Forniamo un supporto personalizzato per l'integrazione completa, comprese le strutture di montaggio specifiche, in modo che non dobbiate preoccuparvi di interrompere il vostro processo consolidato.
