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Modular Optical Profilometer – NANOVEA ST400

NANOVEA ST400 is a modular optical profilometer for non-contact surface measurement, designed as a versatile platform for both research and quality control environments.

As NANOVEA’s flagship optical surface profilometer, it is built on chromatic light technology to deliver reliable, high-speed 2D and 3D surface characterization with continuous scanning and flexible configurations, making it the standard choice for laboratories requiring accuracy, scalability, and long-term adaptability.

NANOVEA ST400 modular optical profilometer for non-contact surface measurement

200 mm @ 40 mm/s
BALAYAGE CONTINU

Course de l'axe X-Y de 200 x 150 mm avec des vitesses allant jusqu'à 40 mm/s. Permet des mesures rapides.
Sans piqûre!

Balayage ultrarapide inégalé à

384 000 points/s

HIGH QUALITY QUALITY CONTROL

Le logiciel avancé permet de sélectionner facilement les zones de l'écran qui seront scannées automatiquement.
Des options Contrôle de Qualité sont disponibles pour automatiser tous les aspects des tests, y compris la reconnaissance des formes, la communication avec une base de données, les macro-programmes et les recettes d'analyse.

PERSONNALISABLE
POUR VOS BESOINS UNIQUES

Des platines X-Y plus grandes, des platines rotatives à 360° et de nombreuses configurations personnalisées sont disponibles.

Zone de balayage X - Y

200 x 150 mm Motorisé

Gamme de hauteur

nm to cm

Dimensions

62 x 62 x 82 cm

Vitesse de balayage

40 mm/s

Profilométrie - Technologie des capteurs confocaux chromatiques
Meilleur sur surfaces à grand angles
Rapide pour larges surfaces
Très facile à utiliser
Pas de couture d'image
Pas de préparation d'échantillon
Pas de recentrage vertical