MEDICIÓN DE LA PLANICIDAD DE LA SUPERFICIE | DEFORMACIÓN Y PLANICIDAD

La técnica confocal cromática es ideal para medir la planitud, la deformación y la planaridad de la superficie en aplicaciones en las que a menudo es fundamental, como en el caso de las micropiezas, el vidrio, los sellos y muchos otros. Dado que no es necesario realizar un ensamblaje para superficies grandes, la técnica confocal cromática puede medir con precisión en segundos estos aspectos, además de detectar defectos locales. Con el HS2000, se puede medir la planitud de la superficie en toda el área de 400 x 500 mm con una desviación inferior a 1 micra en muy poco tiempo. También es posible obtener el polinomio que mejor se ajusta a la forma que causa la desviación en la planitud de la superficie. Con el reconocimiento de patrones y la automatización, además de las condiciones de aprobado/reprobado y la comunicación con la base de datos, el instrumento se puede utilizar como una herramienta avanzada de control de calidad.

Normas:

• ISO 25178
• ISO 4287
• ISO 13565-2
• ISO 12085
• ISO 12780
• ISO 12181

Análisis de medición estándar:

• Ondulación y planitud de superficies en 3D y 2D
• Mejor coincidencia polinómica
• Relación entre materiales y cojinetes

Características del software:

• Escaneos de líneas o áreas fácilmente definibles
• Recetas
• Resolución lateral
• Exportar datos sin procesar e imágenes
• Visualización en tiempo real
• Informes automáticos
• Soporte multilingüe
• Cartografía

Características del software de análisis:

• Filtrado
• Nivelación
• Umbral
• Acercar
• Herramientas de selección de área y eliminación de formas
• Funciones de resta y comparación, entre muchas otras.

Automatización avanzada:

• Enfoque automático (óptico y microscopio), plantilla de análisis automático
• Macros para el manejo de múltiples muestras
• Fácil selección del área bajo el microscopio para la creación de perfiles o pruebas AFM.
• Doble frecuencia automática para superficies con reflectividades variables.
• Etapa rotacional
• Reconocimiento de patrones
• Comunicaciones de bases de datos
• Límites de aprobado/reprobado
• Sensores lineales para mediciones hasta 200 veces más rápidas

Portamuestras y condiciones ambientales:

• Portamuestras personalizados y estándar
• Etapa de calentamiento

Medidas adicionales de la superficie:

Medición de la rugosidad superficial

Medición del perfil de la superficie

Medición de la topografía de la superficie

Medición del volumen superficial

Medición de la altura de los escalones de la superficie