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亚纳米范围

AFM将测试范围扩展到亚纳米级别
小到一个埃,包括横向和纵向的范围。
这是任何光学技术所不能达到的。

超级轮廓测量法

系统中的高速传感器,可以做到快200倍。

没有算法,无需拼接,节约时间。

宽敞的开放平台

200 x 150毫米的X-Y平台和高达150毫米的可调高度,使AFMPro成为处理各种几何形状的样品的理想选择。
无需拼接!

高质量的 质量控制

QC选项可用于自动化测试的所有方面,包括宏程序、模式识别、数据库通信和分析配方。先进的软件使得在屏幕上选择由光学轮廓仪或原子力显微镜自动扫描的区域变得容易。

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