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AR AFMPro
Perfilómetro de Rango Extendido
HERRAMIENTA DE INVESTIGACIÓN COMPLETA
MICROSCOPIO DE FUERZA ATÓMICA
PERFILADOR ÓPTICO DE ALTA VELOCIDAD
MICROSCOPIO DE VÍDEO
GAMA ANGSTROM
La AFM amplía las capacidades 3D al rango subnanométrico
hasta un solo angstrom, incluso lateralmente,
que no se puede conseguir con ninguna técnica óptica.
PERFILOMETRÍA SUPREMA
Mediante la medición de la longitud de onda física directa vinculada a una altura específica,
Los perfiladores ópticos NANOVEA proporcionan una precisión inigualable en las mediciones de superficies en cualquier material.
Los sensores de alta velocidad, disponibles en el sistema, pueden hacerlo hasta 200 veces más rápido.
No hay algoritmos. No hay que coser. Sin pérdida de tiempo.
AMPLIA PLATAFORMA ABIERTA
Las etapas X-Y de 200 x 150 mm y la altura libre ajustable de hasta 150 mm hacen que AFMPro sea ideal para una amplia gama de muestras con geometrías variadas.
¡Libre Costura!
HIGH QUALITY QUALITY CONTROL
Existen opciones de control de calidad para automatizar todos los aspectos de las pruebas, incluidos los programas de macros, el reconocimiento de patrones, la comunicación con la base de datos y las recetas de análisis. El software avanzado facilita la selección de zonas en la pantalla para que sean escaneadas automáticamente por un perfilador óptico o un AFM.
