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AR AFMPro
Profilometer mit erweiterter Reichweite
UMFASSENDES FORSCHUNGSWERKZEUG
RASTERKRAFTMIKROSKOP
OPTISCHES HOCHGESCHWINDIGKEITS-PROFILOMETER
VIDEOMIKROSKOP
ANGSTROMBEREICH
AFM erweitert 3D-Fähigkeiten in den Sub-Nanometer-Bereich
bis hinunter zu einem einzigen Angström, auch seitlich,
was mit keiner optischen Technik erreicht werden kann.
HÖCHSTE PROFILMESSGENAUIGKEIT
Hochgeschwindigkeitssensoren, die auf dem System verfügbar sind, können dies bis zu 200 Mal schneller tun.
Keine Algorithmen. Kein Stichen. Keine Zeitverschwendung.
GERÄUMIGE OFFENE PLATTFORM
200 x 150 mm große X-Y-Tische und ein einstellbarer Höhenabstand von bis zu 150 mm machen das AFMPro ideal für ein breites Spektrum von Proben mit unterschiedlichen Geometrien.
Ohne Stiching!
HOHE QUALITÄT QUALITÄTSKONTROLLE
QC-Optionen sind verfügbar, um alle Aspekte der Prüfung zu automatisieren, einschließlich Makroprogramme, Mustererkennung, Datenbankkommunikation und Analyserezepte. Die fortschrittliche Software macht es einfach, Zonen auf dem Bildschirm auszuwählen, die automatisch von einem optischen Profiler oder AFM gescannt werden.
