剖面图
实验室服务和咨询
NANOVEA轮廓测量实验室服务提供表面轮廓测量,以测量表面粗糙度、光洁度、轮廓、纹理等参数。
我们的实验室服务使用的是 色谱共聚焦 使用NANOVEA非接触式轮廓仪的技术。 色谱共聚焦 技术利用可以精确确定物理高度的光波来测量表面纹理及其特征。我们的技术可以在几秒钟内测量样品,无论几何复杂性,大小或材料类型:透明和不透明,低到高的反射率,光滑到粗糙的纹理,从纳米到毫米的台阶高度,所有这些都不会划伤或损坏样品。我们的设备可以根据给定的标准和规格提供材料表面变化的特征,从ASTM和ISO标准化测试到为您的应用定制解决方案。
二十多年来,NANOVEA一直在重新定义质量控制和材料工程方面的国际标准。我们在所有行业和应用中获得的这些无可比拟的深入经验,现在可以通过实验室测试服务和个人咨询的形式提供给你。
剖面图
二维和三维非接触彩色光
所有表面和材料
表面粗糙度
几何学分析
台阶高度和厚度
扁平度和翘曲度
纹理分析
体积和面积
表面减法
R-值和S-值
标准型
ISO 4287
ISO 13565
ISO 12085
ISO 12780
ISO 12181
ISO 25178
和其他ISO和ASME标准
二维和三维表面剖析
NANOVEA
轮廓仪
NANOVEA测绘仪是三维非接触式表面测绘系统,采用 色谱共聚焦 技术,它利用光的波长来准确地确定物理高度。NANOVEA光学轮廓仪的型号包括全便携式轮廓仪、紧凑型轮廓仪、大范围轮廓仪和卓越稳定性轮廓仪。
通过一次轮廓扫描,可以获得各种测量结果,如波纹度度、粗糙度、阶梯高度和/或薄膜厚度,以及高级分形维数分析和微结构/颗粒统计。
色差共焦技术使用白光,通过一系列具有高度色差的镜片。每个波长将在不同的距离聚焦,形成垂直测量范围。当一个感兴趣的表面在测量范围内时,白光的一个波长将被聚焦,而所有其他的波长将不被聚焦。只有聚焦的波长才能通过针孔滤光片到达CCD光谱仪。测量的物理波长对应于一个垂直位置。
NANOVEA设计和制造用于材料测试和质量控制的仪器。
我们的轮廓仪、摩擦仪和机械测试仪器遍布世界各地的著名教育和工业组织。
25年来,无数的研究人员和公司信赖我们无与伦比的咨询和材料测试服务。