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Compact Optical Profilometer – NANOVEA PS50

NANOVEA PS50 is a compact benchtop optical profilometer for non-contact surface measurement.

It uses NANOVEA’s chromatic light technology to measure surface topography with high vertical accuracy, making it well suited for routine surface characterization when space, simplicity, and cost matter.

NANOVEA PS50 compact optical profilometer for non-contact surface measurement
新常态
 
NANOVEA 非接触式光学测绘仪是传统接触式测绘仪的理想升级。 触针式和激光式轮廓仪。

较小的投资

所有的测试能力。
在一个独特的紧凑设置中。
以可承受的价格。

精密仪器

简单的设计

X - Y扫描区

50 x 50毫米 电动的

高度范围

nm to cm

桌面尺寸

38 x 33 x 43厘米

扫描速度

20毫米/秒

适合于陡峭的角度
大面积快速测量
使用非常容易
无需图像拼接
无需样品预处理
无需重新聚焦