Compact Optical Profilometer – NANOVEA PS50
NANOVEA PS50 is a compact benchtop optical profilometer for non-contact surface measurement.
It uses NANOVEA’s chromatic light technology to measure surface topography with high vertical accuracy, making it well suited for routine surface characterization when space, simplicity, and cost matter.
新常态
NANOVEA 非接触式光学测绘仪是传统接触式测绘仪的理想升级。 触针式和激光式轮廓仪。
较小的投资
所有的测试能力。
在一个独特的紧凑设置中。
以可承受的价格。
X - Y扫描区
50 x 50毫米 电动的
高度范围
nm to cm
桌面尺寸
38 x 33 x 43厘米
扫描速度
20毫米/秒



