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High-Speed Portable Optical Profilometer – NANOVEA JR100

NANOVEA JR100 is a high-speed portable optical profilometer for non-contact surface measurement, designed for fast, accurate inspection of large areas.

Built on the same chromatic light sensor technology used in NANOVEA’s benchtop surface profilometers, the JR100 delivers true lab-quality 2D and 3D surface characterization with continuous scanning, combining speed, throughput, and portability in a single system.

NANOVEA JR100 high-speed portable optical profilometer for non-contact 2D and 3D surface measurement

100毫米的
连续扫描

使用100 x 100毫米的X-Y轴行程,便携式光学轮廓仪提供高速测量,并且无需拼接。

无与伦比的超高速扫描

384,000点/秒

真正的2D&3D性能
便利性

占地面积小,重量仅有17公斤。 JR100可以方便地运输到任何地方。

极限的
质量控制

一个带有高速传感器的便携式装置确实是
通往轮廓测量学前沿的大门。

X - Y扫描区

100 x 100 mm

高度范围

nm to cm

桌面尺寸

44 x 49 x 32 厘米

扫描速度

20毫米/秒

轮廓测量法 - 色度共焦传感器技术
适合于陡峭的角度
大面积快速测量
使用非常容易
无需图像拼接
无需样品预处理
无需重新聚焦