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AR In-Line Profilometer
NANOVEA’s in-line profilometer solutions integrate non-contact chromatic light sensors directly into production lines, enabling real-time surface measurement and immediate process feedback.
Built on the same proven sensors used in NANOVEA’s laboratory profilometers, these systems deliver accurate 2D and 3D surface characterization – roughness, texture, geometry, and defect detection – without interrupting production.
原地测量
及实时反馈
NANOVEA独特的软件提供了对任何表面的实时测量和分析，其采集率超过1,300,000点/秒。
它的众多功能之一，具体到每个传感器或所有传感器的平均值的合格和不合格标准，有助于有效识别来自材料加工和产品制造的表面缺陷。
触发的
在线检查
连续
在线检查
可以安装多个非接触式轮廓仪传感器，同时监测不同区域的粗糙度和纹理。能够在不接触的情况下确定样品的粗糙度。
色光技术允许对最终产品进行可靠的在线表面质量检测。
高质量的 质量控制
无缝整合
我们提供个性化的全面整合支持，包括具体的安装部件，因此你不必担心会打乱你的既定流程。
