TR 
EN 
ES 
DE 
FR 
IT 
ZH 
JA 
PT 
KO 
PL 
AR In-Line Profilometer
NANOVEA’s in-line profilometer solutions integrate non-contact chromatic light sensors directly into production lines, enabling real-time surface measurement and immediate process feedback.
Built on the same proven sensors used in NANOVEA’s laboratory profilometers, these systems deliver accurate 2D and 3D surface characterization – roughness, texture, geometry, and defect detection – without interrupting production.
YERINDE ÖLÇÜM
& GERÇEK ZAMANLI GERI BILDIRIM
NANOVEA'nın benzersiz yazılımı, 1.300.000 nokta/sn'den fazla alım hızıyla herhangi bir yüzeyin gerçek zamanlı olarak ölçülmesini ve analiz edilmesini sağlar.
Çok sayıda özelliğinden biri olan, her sensöre veya tüm sensörlerin ortalamasına özgü Geçti ve Kaldı kriterleri, malzeme işleme ve ürün imalatından kaynaklanan yüzey kusurlarının etkili bir şekilde belirlenmesine yardımcı olur.
TETİKLENDİ
HAT İÇİ DENETİM
SÜREKLİ
HAT İÇİ DENETİM
Farklı alanların pürüzlülüğünü ve dokularını aynı anda izlemek için birden fazla temassız profilleyici sensörü takılabilir. Temas olmadan bir numunenin pürüzlülüğünü belirleyebilir,
Kromatik Işık teknolojisi, son ürünün güvenilir bir hat içi yüzey kalitesi denetimine olanak tanır.
Dik açılar için en iyisi
Geniş alanlar için hızlı
Kullanımı çok kolay
Görüntü Dikişi Yok
Örnek Hazırlama Yok
Yeniden Odaklanma Yok
2D & 3D TEMASSIZ PROFILOMETRI
YÜKSEK KALİTE KALİTE KONTROL
SORUNSUZ ENTEGRASYON
Özel montaj yapıları da dahil olmak üzere kişiselleştirilmiş tam entegrasyon desteği sağlıyoruz, böylece yerleşik sürecinizi bozma konusunda endişelenmenize gerek kalmıyor.
