In-Line Profilometer
NANOVEA’s in-line profilometer solutions integrate non-contact chromatic light sensors directly into production lines, enabling real-time surface measurement and immediate process feedback.
Built on the same proven sensors used in NANOVEA’s laboratory profilometers, these systems deliver accurate 2D and 3D surface characterization – roughness, texture, geometry, and defect detection – without interrupting production.
MEDIÇÃO IN-SITU
E FEEDBACK EM TEMPO REAL
O software exclusivo da NANOVEA fornece medições e análises de qualquer superfície em tempo real com taxas de aquisição de mais de 1.300.000 pontos/segundo.
Uma de suas inúmeras características, critérios de aprovação e falha específicos para cada sensor ou média de todos os sensores, ajuda a identificar efetivamente defeitos de superfície derivados do processamento de materiais e fabricação de produtos.
ACIONADA
INSPEÇÃO EM LINHA
CONTÍNUA
INSPEÇÃO EM LINHA
PERFILÔMETROS 2D & 3D SEM CONTATO
ALTA QUALIDADE CONTROLE DE QUALIDADE
INTEGRAÇÃO PERFEITA
Fornecemos suporte de integração total personalizado, incluindo estruturas de montagem específicas para que você não tenha que se preocupar em interromper seu processo estabelecido.



