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AR Extended-Range Surface Profilometer with AFM – NANOVEA AFM Pro
NANOVEA AFM Pro is an atomic force microscope combining AFM precision with high-speed optical profilometry and video microscopy, enabling surface measurement from sub-nanometer to macro scale within a single platform.
FERRAMENTA DE PESQUISA COMPLETA
MICROSCÓPIO DE FORÇA ATÔMICA
PERFILÕMETRO ÓPTICO DE ALTA VELOCIDADE
MICROSCÓPIO DE VÍDEO
FAIXA DE ANGSTROM
AFM expande as capacidades 3D para a faixa de sub-nanômetros
até um único angstrom, inclusive lateralmente,
que não é atingível com nenhuma técnica ótica.
PERFILOMETRIA SUPREMA
Os sensores de alta velocidade, disponíveis no sistema, podem fazer isso até 200 vezes mais rápido.
Sem algoritmos. Sem costuras. Sem desperdício de tempo.
AMPLA PLATAFORMA ABERTA
Os estágios de 200 x 150 mm X-Y e a altura ajustável de até 150 mm tornam o AFMPro ideal para uma ampla gama de amostras com geometrias variadas.
Sem costura!
ALTA QUALIDADE CONTROLE DE QUALIDADE
As opções de CQ estão disponíveis para automatizar todos os aspectos dos testes, incluindo programas de macro, reconhecimento de padrões, comunicação de banco de dados e receitas de análise. O software avançado facilita a seleção de zonas na tela para serem digitalizadas automaticamente por um Perfilometro Óptico ou AFM.
