NANOVEA PS50 is a compact benchtop optical profilometer for non-contact surface measurement.
It uses NANOVEA’s chromatic light technology to measure surface topography with high vertical accuracy, making it well suited for routine surface characterization when space, simplicity, and cost matter.
Ta strona używa plików cookie, aby poprawić wrażenia użytkownika. Korzystając z naszej strony internetowej wyrażasz zgodę na wszystkie pliki cookie zgodnie z naszą Polityką dotyczącą plików cookie. Więcej informacji