NANOVEA独自のソフトウェアにより、1,300,000点/秒以上の取得速度で、あらゆる表面の測定と分析をリアルタイムで行うことができます。

また、各センサーの合格・不合格判定や全センサーの平均判定など、材料加工や製品製造に起因する表面欠陥を効果的に特定するための機能も充実しています。