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AR AFMPro
Profilomètre à Gamme Étendue
OUTIL DE RECHERCHE COMPLET
MICROSCOPE À FORCE ATOMIQUE
PROFILEUR OPTIQUE À GRANDE VITESSE
VIDÉO-MICROSCOPE
GAMME ANGSTROM
L'AFM étend les capacités 3D au domaine sub-nanométrique
jusqu'à un seul angström, y compris latéralement,
ce qui n'est pas réalisable par quelque soit la technique optique.
PROFILOMÉTRIE SUPÉRIEURE
Les capteurs Hautes Vitesses, disponibles sur le système, peuvent mesurer jusqu'à 200 fois plus vite.
Pas d'algorithmes. Pas de collage d'images. Pas de perte de temps.
PLATE-FORME OUVERTE SPACIEUSE
Les platines X-Y de 200 x 150 mm et le dégagement en hauteur réglable jusqu'à 150 mm font de l'AFMPro un outil idéal pour une large gamme d'échantillons aux géométries variées...
Sans collage d'images !
HIGH QUALITY QUALITY CONTROL
Des options de contrôle de qualité sont disponibles pour automatiser tous les aspects des essais, y compris les recettes automatisées, la reconnaissance des formes, la communication avec les bases de données et les analyses automatiques. Le logiciel avancé permet de sélectionner facilement des zones à l'écran qui seront balayées automatiquement par le profilomètre optique ou l'AFM.
