In-Line Profilometer
NANOVEA’s in-line profilometer solutions integrate non-contact chromatic light sensors directly into production lines, enabling real-time surface measurement and immediate process feedback.
Built on the same proven sensors used in NANOVEA’s laboratory profilometers, these systems deliver accurate 2D and 3D surface characterization – roughness, texture, geometry, and defect detection – without interrupting production.
MEDICIÓN IN SITU
& COMENTARIOS EN TIEMPO REAL
El exclusivo software de NANOVEA proporciona mediciones y análisis de cualquier superficie en tiempo real con velocidades de adquisición de más de 1,300,000 puntos/segundo.
Una de sus numerosas características, los criterios de aprobado y rechazado específicos para cada sensor o el promedio de todos los sensores, ayuda a identificar eficazmente los defectos superficiales derivados del procesamiento de materiales y la fabricación de productos.
ACTIVADO
INSPECCIÓN EN LÍNEA
CONTINUO
INSPECCIÓN EN LÍNEA
PERFILOMETRÍA 2D Y 3D SIN CONTACTO
ALTA CALIDAD CONTROL DE CALIDAD
INTEGRACIÓN PERFECTA
Ofrecemos asistencia personalizada para la integración completa, incluyendo estructuras de montaje específicas, para que no tengas que preocuparte por interrumpir tu proceso establecido.



