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AR In-Line Profilometer
NANOVEA’s in-line profilometer solutions integrate non-contact chromatic light sensors directly into production lines, enabling real-time surface measurement and immediate process feedback.
Built on the same proven sensors used in NANOVEA’s laboratory profilometers, these systems deliver accurate 2D and 3D surface characterization – roughness, texture, geometry, and defect detection – without interrupting production.
IN-SITU-MESSUNG
& ECHTZEIT-FEEDBACK
Die einzigartige Software von NANOVEA ermöglicht Messungen und Analysen beliebiger Oberflächen in Echtzeit mit Erfassungsraten von mehr als 1.300.000 Punkten/Sekunde.
Eine der zahlreichen Funktionen, die Pass & Fail-Kriterien, die für jeden Sensor oder den Durchschnitt aller Sensoren spezifisch sind, hilft bei der effektiven Identifizierung von Oberflächenfehlern, die bei der Materialverarbeitung und Produktherstellung entstehen.
TRIGGERED
IN-LINE-PRÜFUNG
CONTINUOUS
IN-LINE-PRÜFUNG
Es können mehrere berührungslose Profiler-Sensoren installiert werden, um Rauheit und Texturen verschiedener Bereiche gleichzeitig zu überwachen. Sie können die Rauheit einer Probe berührungslos bestimmen,
Die Chromatic Light Technologie ermöglicht eine zuverlässige Inline-Oberflächenqualitätsprüfung des Endprodukts.
Am besten für steile Winkel
Schnell für große Flächen
Sehr einfach zu bedienen
Kein Image Stitching
Keine Probenvorbereitung
Keine Neuausrichtung
2D & 3D BERÜHRUNGSLOSE PROFILOMETRIE
HOHE QUALITÄT QUALITÄTSKONTROLLE
NAHTLOSE INTEGRATION
Wir bieten personalisierte, vollständige Integrationsunterstützung, einschließlich spezifischer Montagestrukturen, damit Sie sich keine Sorgen machen müssen, dass Ihre etablierten Prozesse unterbrochen werden.
