يوفر برنامج NANOVEA الفريد قياسات وتحليلات لأي سطح في الوقت الفعلي بمعدلات اكتساب تزيد عن 1،300،000 نقطة / ثانية.

تساعد إحدى ميزاته العديدة ، معايير النجاح والفشل الخاصة بكل مستشعر أو متوسط جميع أجهزة الاستشعار ، على تحديد عيوب السطح الناتجة عن معالجة المواد وتصنيع المنتجات بشكل فعال.