قياس حافة أداة القطع في ثوان

Irvine CA ، 27 تموز (يوليو) 2016 - يقوم مقياس التشكيل الجانبي التقليدي بمسح عينات الأسطح من اتجاه واحد ثابت. هذا مناسب فقط لقياس العينات المسطحة بشكل كافٍ ، على عكس الأشكال الأسطوانية التي تتطلب دورانًا دقيقًا بزاوية 360 درجة. بالنسبة لتطبيق مثل توصيف حافة القطع الحلزونية للأداة ، ستحتاج الآلة التقليدية إلى عمليات مسح متعددة من زوايا مختلفة للجزء بأكمله ، بالإضافة إلى معالجة بيانات مهمة بعد المسح. غالبًا ما يكون هذا مضيعة للوقت بالنسبة لتطبيقات مراقبة الجودة التي لا تتطلب سوى قياسات من مناطق محددة جدًا.

تعمل مرحلة الدوران في نانوفيا على حل هذه المشكلة من خلال التحكم في الحركة المتزامن للمحاور الجانبية والدورانية. هذه التقنية تلغي الحاجة التي تستغرق وقتًا طويلاً لقياس الجزء بالكامل وإعادة المحاذاة المستمرة. بدلاً من ذلك ، يمكن تحديد المحيط الكامل لحافة القطع بالكامل في ثوانٍ. يمكن تحديد جميع الزوايا والميزات المرغوبة مباشرةً من الفحص ، دون الحاجة إلى الدمج الشامل لملفات متعددة معًا.

توفر تقنية NANOVEA البؤرية اللونية دقة أكبر بكثير ، تصل إلى 2.7 نانومتر ، ودقة من منافسي Focus Variation. يتم قياس ارتفاع السطح الخام مباشرة من اكتشاف الطول الموجي الذي يركز على السطح ، مع عدم وجود أي من الأخطاء الناتجة عن تقنيات قياس التداخل ، وعدم وجود قيود على مجال الرؤية ، وعدم الحاجة إلى إعداد سطح العينة. يمكن بسهولة قياس المواد ذات الانعكاسية العالية أو المنخفضة للغاية ويتم تمييز زوايا الجدران العالية جدًا بدقة دون أي مشكلة.

بالاقتران مع مستشعر خط NANOVEA ، يمكن التقاط شريط من البيانات يصل عرضه إلى 4.78 مم في مسار واحد ، بينما يتحرك خطيًا حتى 150 مم في اتجاه المسح. في نفس الوقت ، يمكن لمرحلة الدوران أن تدور حول العينة بالسرعة المطلوبة. يتيح هذا النظام مجتمعةً إنشاء خريطة ارتفاع ثلاثية الأبعاد مستمرة للمحيط الكامل لحافة القطع ، مع أي درجة أو نصف قطر ، في جزء صغير من الوقت عند مقارنتها بالتقنيات الأخرى.

انظر ملاحظة التطبيق: قياس الدوران باستخدام قياس الأبعاد ثلاثي الأبعاد