NANOVEA ST400 is a modular optical profilometer for non-contact surface measurement, designed as a versatile platform for both research and quality control environments.
As NANOVEA’s flagship optical surface profilometer, it is built on chromatic light technology to deliver reliable, high-speed 2D and 3D surface characterization with continuous scanning and flexible configurations, making it the standard choice for laboratories requiring accuracy, scalability, and long-term adaptability.
Course de l'axe X-Y de 200 x 150 mm avec des vitesses allant jusqu'à 40 mm/s. Permet des mesures rapides. Sans piqûre!
Balayage ultrarapide inégalé à
384 000 points/s
HIGH QUALITYQUALITY CONTROL
Le logiciel avancé permet de sélectionner facilement les zones de l'écran qui seront scannées automatiquement. Des options Contrôle de Qualité sont disponibles pour automatiser tous les aspects des tests, y compris la reconnaissance des formes, la communication avec une base de données, les macro-programmes et les recettes d'analyse.
PERSONNALISABLE POUR VOS BESOINS UNIQUES
Des platines X-Y plus grandes, des platines rotatives à 360° et de nombreuses configurations personnalisées sont disponibles.
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