Irvine, California, 27 de julio de 2016. La perfilometría convencional escanea las superficies de las muestras desde una única dirección fija.  Esto solo es adecuado para medir muestras suficientemente planas, a diferencia de las formas cilíndricas, que requieren una rotación precisa de 360°. Para una aplicación como la caracterización del filo helicoidal de una herramienta, una máquina convencional necesitaría múltiples escaneos desde diferentes ángulos de toda la pieza, así como una importante manipulación de los datos tras el escaneo. A menudo, esto requiere demasiado tiempo para aplicaciones de control de calidad que solo necesitan mediciones de regiones muy específicas.

La plataforma giratoria de NANOVEA resuelve este problema con el control simultáneo del movimiento de los ejes lateral y giratorio. Esta técnica elimina la necesidad de medir toda la pieza y realinearla continuamente, lo que lleva mucho tiempo. En su lugar, se puede determinar la circunferencia completa de todo el filo en cuestión de segundos. Todos los ángulos y características deseados se pueden determinar directamente a partir del escaneo, sin necesidad de unir múltiples archivos.

La técnica confocal cromática de NANOVEA ofrece una resolución mucho mayor, de hasta 2,7 nm, y una precisión superior a la de sus competidores que utilizan la variación de enfoque. La altura bruta de la superficie se mide directamente a partir de la detección de la longitud de onda enfocada en la superficie, sin los errores que provocan las técnicas de interferometría, sin limitaciones del campo de visión y sin necesidad de preparar la superficie de la muestra. Los materiales con una reflectividad extremadamente alta o baja se pueden medir fácilmente y los ángulos de pared muy elevados se caracterizan con precisión sin ningún problema.

En combinación con el sensor lineal de NANOVEA, se puede capturar una barra de datos de hasta 4,78 mm de ancho en una sola pasada, mientras se mueve linealmente hasta 150 mm en la dirección de escaneo. Al mismo tiempo, la plataforma giratoria puede hacer girar la muestra a la velocidad deseada. En conjunto, este sistema permite crear un mapa de altura 3D continuo de toda la circunferencia de un filo, con cualquier paso o radio, en una fracción del tiempo que requieren otras tecnologías.

Véase la nota de aplicación: Medición rotacional mediante perfilometría 3D