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Large Area Optical Profilometer – NANOVEA ST500

NANOVEA ST500 is a large area optical profilometer for non-contact surface measurement, designed for high-speed scanning of oversized samples.

Built on NANOVEA’s chromatic light technology, the ST500 delivers accurate 2D and 3D surface characterization with continuous scanning over extended travel ranges, making it ideal for applications where area coverage, speed, and measurement reliability are critical.

NANOVEA ST500 large area optical profilometer for high-speed non-contact surface measurement

400 mm @ 200 mm/s
KONTINUIERLICHE ABTASTUNG

400 x 400 mm Verfahrweg der X-Y-Achse mit Geschwindigkeiten von bis zu 200 mm/s. Liefert ultraschnelle Messungen.
Ohne Stiching!

Unerreichtes ultraschnelles Scannen bei

384.000 Punkte/s

HOHE QUALITÄT QUALITÄTSKONTROLLE

Vollständig programmierbar... Das einzige System, das Sie für Qualitätskontrolle und Forschung mit Nanometergenauigkeit benötigen.

X - Y Scanbereich

400 x 400 mm Motorisiert

Höhe Bereich

nm to cm

Desktop-Abmessungen

97 x 72 x 92 cm

Scan-Geschwindigkeit

200 mm/s

Profilometrie - Chromatisch konfokale Sensortechnik
Am besten für steile Winkel
Schnell für große Flächen
Sehr einfach zu bedienen
Kein Image Stitching
Keine Probenvorbereitung
Keine Neuausrichtung