AR 
EN 
ES 
DE 
FR 
IT 
ZH 
JA 
PT 
TR 
KO 
PL التصنيف: Profilometry | ارتفاع الخطوة وسمكها
فيلم شفاف لقياس الركيزة الشفافة
يستخدم مقياس التقسيم Nanovea PS50 لقياس الخشونة وسمك ارتفاع الخطوة والسمك البصري لفيلم شفاف رقيق على طبقة زجاجية شفافة. سيتم الحصول على ارتفاع الخطوة عن طريق قياس مساحة الفيلم والمنطقة التي يتعرض فيها الركيزة لفرق الارتفاع النسبي ، بينما سيتم قياس السماكة البصرية باستخدام ملف التعريفr القدرة على القياس من خلال الفيلم الشفاف واكتشاف الانعكاس من السطح العلوي للفيلم والركيزة في وقت واحد.
فيلم شفاف لقياس الركيزة الشفافة باستخدام مقياس الملامح ثلاثي الأبعاد
قياس عمق الخدش الدقيق باستخدام مقياس الملامح ثلاثي الأبعاد
في هذا التطبيق نانوفيا ST400 ملف التعريفr يستخدم ل قياس العمق صف من الخدوش الصغيرة التي تم إنشاؤها باستخدام Nanovea اختبار ميكانيكي في وضع الصفر. في ثوانٍ، يوفر مقياس الملف التعريفي، مع تمرير سطر واحد في الوضع ثنائي الأبعاد، قياسًا للمساحة والعمق.
قياس عمق الخدوش الدقيقة باستخدام مقياس الملامح ثلاثي الأبعاد
