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AR El perfilómetro rompe el hielo y abre nuevos caminos
Irvine CA, 02 de diciembre de 2008 - Nanovea ha anunciado hoy que su línea de perfilómetros sin contacto incluirá ahora un sistema con velocidades de medición más de 180 veces más rápidas. Con este nuevo avance, el perfilómetro de Nanovea tendrá ahora la capacidad de alcanzar velocidades adecuadas para entornos de producción y control de calidad con más limitaciones de tiempo. Este nuevo avance en la tecnología del perfilómetro supone un gran avance para su uso en estos entornos concretos. Antes de este nuevo avance, esta técnica de perfilado requería una medición punto por punto, que adquiría puntos de datos individuales mientras la muestra que se estaba midiendo se movía de un lado a otro bajo la óptica para crear mapas en 3D. Con esta nueva tecnología habrá una línea de 180 puntos medibles que se adquirirán simultáneamente, lo que reducirá significativamente el tiempo para crear un mapeado 3D de la superficie. "Estoy entusiasmado con esta nueva capacidad; esto nos dará la posibilidad de trabajar con nuevos mercados que requieren altos rendimientos". afirmó Craig Leising, director de producto de Nanovea. La nueva Perfilómetro El sistema utiliza una matriz de 1 x 180 puntos de medición y puede escanear hasta 1.800 líneas por segundo para crear una velocidad de escaneo total de hasta 324.000 puntos por segundo. El sistema será capaz de medir grandes áreas en segundos con alta resolución y puede equiparse con software de reconocimiento de imágenes para una inspección de alta velocidad. Las opciones también incluirán un espejo de escaneo para crear una función de escaneo de campo que medirá 180 puntos por 230 líneas. También habrá disponible un sistema en línea personalizado.
Técnica de detección óptica de profundidad sin contacto de Nanovea, pendiente de patente
Irvine CA, 20 de octubre de 2008 - Nanovea ha solicitado la patente de la detección óptica de profundidad sin contacto para ensayos instrumentados de indentación y rayado. La "revolucionaria" técnica sin contacto proporciona mediciones de altura 100% precisas durante los ensayos de dureza y rayado micro/macro. Antes de este nuevo avance, cualquier ensayo requería un contacto mecánico con la superficie, lo que resultaba imposible durante el movimiento de la muestra, para tener en cuenta la conformidad del sustrato y de la máquina. Ahora, con la capacidad de observar la profundidad precisa del penetrador sin contacto, el movimiento de la muestra ya no es un problema y se puede registrar directamente la profundidad real del penetrador. "Pierre Leroux, Director General de la División de Ensayo de Superficies de Micro Photonics, afirma: "Estamos entusiasmados con nuestra nueva técnica y esperamos poder mostrar sus excelentes resultados. "Buscamos constantemente nuevas formas de proporcionar instrumentos que sean tan progresistas como las soluciones a las que van destinados; creo que esta técnica lo consigue". "Los módulos de alta precisión para la determinación de las propiedades micro/macromecánicas de revestimientos y sustratos finos/gruesos mediante ensayos instrumentados de indentación y rayado/adherencia. Son ideales para la caracterización de revestimientos industriales; desde capas procesadas por plasma, utilizadas en tecnología óptica y de semiconductores, hasta revestimientos decorativos y protectores, utilizados para piezas de automóviles y bienes de consumo". Nanovea Micro/Macro Probadores Mecánicos utilizan sensores independientes de fuerza y profundidad para obtener las curvas de profundidad versus carga utilizadas en los ensayos de indentación y rayado instrumentados. El resultado es la técnica de medición más rápida y precisa de la industria, capaz de medir cualquier forma y textura de material, y que resuelve los problemas asociados a los antiguos métodos de medición de la altura del penetrador, como el hundimiento en materiales blandos y el movimiento de referencia en superficies rugosas.
Carreras de Fórmula Drift con instrumentos de prueba de materiales
Irvine, California - 2 de agosto de 2007 - Micro Photonics ha anunciado hoy que la empresa ha sido nombrada "Proveedor oficial de equipos de pruebas de materiales" para la serie de carreras profesionales Formula Drift. El patrocinio une a Micro Photonics, proveedor líder de instrumentación para pruebas y análisis de materiales, con Formula Drift Holdings, LLC; la única serie de carreras profesionales de drift en Norteamérica. En virtud del acuerdo, Micro Photonics se compromete a proporcionar instrumentación a Formula Drift y, a cambio, Formula Drift concede a Micro Photonics todos los derechos y privilegios de patrocinio que la acompañan. "Micro Photonics está deseando establecer una gran relación con la Formula Drift Professional Racing Series". Dijo Pierre Leroux, Director General de la División de Pruebas de Superficie de Micro Photonics. "Dado que ofrecemos una selección tan variada de instrumentos, podemos proporcionar todo lo que los pilotos necesitan para la verificación de los equipos y el control de calidad. Además, es emocionante participar en las carreras de drift, ya que el interés es tremendo". Las carreras de drift son un deporte de motor altamente cualificado que requiere que los pilotos superen a sus competidores perfeccionando sus coches con deslizamientos de potencia en una serie de curvas en un circuito establecido, llevando la tracción de los neumáticos del coche al límite. "Todos los pilotos de drift del planeta necesitan un durómetro de neumáticos", dijo Randy Hembrey, comisario jefe de la serie de carreras profesionales de drift. Además de los instrumentos, los pilotos y el personal se beneficiarán de la experiencia en ingeniería mecánica de Micro Photonics. La alianza también ofrece la oportunidad de establecer relaciones con otras organizaciones patrocinadoras de la Fórmula Drift. Micro Photonics ha sido un proveedor líder de pruebas de materiales instrumentos y pruebas de laboratorio desde hace más de quince años. La empresa está especializada en: Pruebas nanomecánicas y micromecánicas, microtomografía de rayos X, difracción de rayos X, perfilómetro 3D sin contacto, análisis de películas finas, instrumentos de imagen biológica y sistemas NSOM, SPM y AFM.
La nueva torreta Multipen de Micro Photonics ofrece nueve opciones de sensores en un solo conjunto
Irvine CA, 7 de julio de 2006 - Micro Photonics Inc. ha presentado hoy la nueva torreta multipluma óptica que ofrece una mayor flexibilidad en las mediciones confocales cromáticas. La incorporación de la torreta multióptica al perfilómetro permite a los usuarios cambiar de forma rápida y sencilla las plumas ópticas sin tener que invertir tiempo en desmontar o añadir nuevos conjuntos de plumas. Compuesta por tres lupas únicas y tres lentes cromáticas diferentes, la torreta multipluma óptica ofrece hasta nueve opciones de sensores ópticos en un único conjunto. La torreta se integra fácilmente en cualquier perfilómetro óptico sin contacto Nanovea Profilometer 3D nuevo o existente. Las combinaciones de la pluma se componen de más de treinta selecciones de sensores diferentes disponibles en Micro Photonics. Las opciones incluyen cinco lupas, con distancias focales de 3,3 mm a 29 mm, y seis lentes cromáticas diferentes, con profundidades de campo de 130 µm a 27 mm. Las combinaciones de lupas pueden alcanzar una resolución axial máxima de 5 nm, una precisión de 20 nm y una inclinación máxima de 87º para objetos difusivos. Esta opción de Nanovea Micromeasure está disponible exclusivamente en Micro Photonics Inc. Micro Photonics es un proveedor líder de instrumentos de tecnología de materiales y pruebas de laboratorio desde 1992. La empresa está especializada en: Pruebas nanomecánicas y micromecánicas, microtomografía de rayos X, elipsometría, difracción de rayos X, 3D sin contacto, etc. PerfilómetroAnálisis de películas finas, instrumentos de imagen biológica y sistemas NSOM, SPM y AFM.
Micro Photonics presenta unas nuevas plumas ópticas confocales cromáticas modulares de menor precio.
Irvine CA, 24 de marzo de 2006 - Micro Photonics Inc. ha presentado hoy la última línea de confocal cromático plumas ópticas para la perfilometría, la microtopografía, la rugosidad, la vibrometría de enfoque automático, el control de calidad de la inspección en línea y las mediciones de espesor. El nuevo diseño modular permite hasta 30 configuraciones diferentes de plumas ópticas para una profundidad de campo, un tamaño de punto, una distancia de trabajo, una inclinación del objeto y una eficacia fotométrica específicas. Los usuarios pueden elegir entre una selección de cinco lupas, con longitudes focales de 3,3 mm a 29 mm, y seis lentes cromáticas diferentes, con profundidades de campo de 130 µm a 27 mm. Las plumas pueden alcanzar una resolución axial máxima de 5nm, una precisión de 20nm y una inclinación máxima de 87º para objetos difusos. Basadas en la aberración cromática de la luz blanca, las plumas tienen una resolución lateral superior (1,1µm) y vertical (5nm); lo que las convierte en una mejor opción que los sensores de triangulación láser para aplicaciones en las que las mediciones de alta resolución son fundamentales, como ocurre a veces en aplicaciones de vibrometría, inspección en línea y control de calidad. En el caso de los materiales difíciles, como los textiles, los polímeros, los materiales negros o azulados, las superficies de alta relación de aspecto y los materiales de baja reflectividad, la aberración cromática con luz blanca suele ser la única técnica adecuada. Micro Photonics cree que los nuevos precios competitivos atraerán a clientes que antes consideraban que la aberración cromática con luz blanca era demasiado cara. "Los clientes conocían esta técnica y sus ventajas para las aplicaciones OEM, pero debido a su precio la pasaban por alto en favor de sensores láser más baratos. Los nuevos precios son 40% más bajos de media, lo que marcará la diferencia", afirma Pierre Leroux, Director General de la División de Ensayos de Superficies. La velocidad de adquisición de hasta 30.000 Hz cumple los requisitos específicos de vibrometría y control de calidad en línea y fuera de línea. El sistema puede utilizarse como unidad independiente o conectarse a un ordenador mediante diversos paquetes de software. También están disponibles soluciones integradas como el Micromeasure Profiler y el Micromeasure Dual Scanner para obtener imágenes completas de superficies en 3D. Esta tecnología está disponible en Micro Photonics Inc. Micro Photonics es un proveedor líder de instrumentos de tecnología de materiales y pruebas de laboratorio desde 1992. La empresa está especializada en: Pruebas nanomecánicas y micromecánicas, microtomografía de rayos X, elipsometría, difracción de rayos X, perfilometría 3D sin contacto, análisis de películas finas, instrumentos de imagen biológica y sistemas NSOM, SPM y AFM.
Micro Photonics presenta un perfilómetro de escaneo doble y un instrumento de escaneo
Irvine CA, 25 de enero de 2005 - Micro Photonics Inc. ha anunciado hoy la última incorporación a su línea de instrumentos de ensayo de materiales de superficie. El perfilómetro de escaneo dual es el primero de su clase que proporciona escaneo simultáneo de espesor y perfilometría dual. Fijada en una plataforma entre las dos plumas, la platina de la muestra se mueve en dirección x-y permitiendo que las dos sondas determinen un perfil de superficie sincronizado. El software del sistema calcula la distancia conocida entre las plumillas, con la longitud de onda de la luz blanca incidente reflejada por la superficie de la muestra, para determinar el espesor de la muestra en cualquier punto dado. Utilizando el principio de la aberración cromática, dos plumillas hacen pasar luz blanca a través de la lente del objetivo y reflejan esa luz en la superficie de la muestra. A continuación, el objetivo recoge la longitud de onda de la luz blanca incidente y la reenfoca a una distancia variable del objetivo. Esta tecnología exclusiva está disponible en Micro Photonics Inc. Micro Photonics es un proveedor líder de instrumentos de tecnología de materiales y pruebas de laboratorio desde hace más de doce años. La empresa está especializada en: ensayos nanomecánicos y micromecánicos, microtomografía de rayos X, elipsometría, difracción de rayos X, 3D sin contacto PerfilómetroAnálisis de películas finas, instrumentos de imagen biológica y sistemas NSOM, SPM y AFM.
La microfotónica ofrece una tecnología innovadora para los ensayos mecánicos a temperatura específica
Irvine, California - 22 de abril de 2004 - Micro Photonics Inc, proveedor líder de instrumentos y servicios de laboratorio para materiales de superficie, presenta un gran avance en la tecnología de materiales, los ensayos mecánicos a temperatura específica. Los investigadores pueden acoplar fácilmente el módulo de calentamiento/enfriamiento a plataformas de dureza o rayado para alcanzar temperaturas comprendidas entre -196°C y 600°C. Una vez colocado, el módulo, que consta de una bobina de resistencia de platino y una carcasa casi totalmente encapsulada que reduce la deriva térmica, produce un control de la temperatura muy estable y preciso. La utilización de la plataforma Nano/Micro Hardness también ofrece otra ventaja exclusiva: una técnica de profundidad diferencial superficie-indentador para contrarrestar los efectos de la expansión térmica natural de la muestra sometida a ensayo, una tecnología que no está disponible con otros instrumentos de ensayo de dureza. Aunque la mayoría de los ensayos de indentación se realizan a temperatura ambiente y producen resultados eficientes, la necesidad de investigar las propiedades mecánicas de determinados materiales a temperaturas de servicio o cercanas a ellas ha crecido significativamente en los últimos años, lo que ha impulsado el desarrollo de esta tecnología. Micro Photonics ofrece servicios de ensayos de laboratorio por contrato, instrumentos, servicio posventa y formación para una amplia gama de instrumentos de metrología de superficies, incluidos: nano/micro pruebas mecánicasLa tecnología de la información se basa en el análisis de las propiedades de los materiales, la fricción, el desgaste, la adhesión, la resistencia a los arañazos y la tenacidad a la fractura. Se dispone de elipsómetros para el espesor de películas finas y las propiedades ópticas (n&k), y de una amplia gama de instrumentos de perfilado de superficies sin contacto para el estudio de la rugosidad, el análisis dimensional y las propiedades del radio de curvatura y el espesor. Además, Micro Photonics ofrece instrumentos de microtomografía de rayos X para obtener imágenes y analizar microestructuras internas.
