Portabilidad y flexibilidad del perfilómetro 3D sin contacto Jr25
Comprender y cuantificar la superficie de una muestra es crucial para muchas aplicaciones, como el control de calidad y la investigación. Para estudiar superficies, a menudo se utilizan perfilómetros para escanear muestras y obtener imágenes de ellas. Un gran problema de los instrumentos de perfilometría convencionales es la incapacidad de adaptarse a muestras no convencionales. Las dificultades para medir muestras no convencionales pueden deberse al tamaño de la muestra, la geometría, la imposibilidad de mover la muestra u otros inconvenientes en la preparación de la muestra. El instrumento portátil de Nanovea Perfilómetros 3D sin contactode la serie JR, es capaz de resolver la mayoría de estos problemas gracias a su capacidad para escanear superficies de muestras desde distintos ángulos y a su portabilidad.
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Hi, Please send a quotation with the maximum discount possible. Thanks.
We currently use an optical thin film analyzer in order to measure our PTFE coating thicknesses on sacrificial silicon wafers that are coated at the same time as our products. We are looking for a way to measure the coating on an actual product that is coated. We coat anywhere between 50 nm and 10 micron, but this is not a limiting capability if the tool has a smaller range of thicknesses it can measure. Our coating is optically clear and we get very good results with our current thin film analyzer, however it does not have the capabilities of measuring on our products since the substrate needs to be reflective and flat.
Could you share some more information on any products that might be able to measure our coating thickness? Some of the substrates we are interested in measuring coating thickness on are curved aluminum substrates with a 50-150 grit texture (pretty rough) and PCB’s. I appreciate any help you could give.
hello we at thin metal parts are interested in a non contact profilometer. please call 719.268.8300ext 309 or email. thank you.
Thank you for your interest in our Profilometers. We are excited to work with you on your application!