Hier finden Sie Beispiele für Materialien, die wir diesen Monat getestet haben:
Mechanisch:
- Nanoindentationsschwingung von dünnen Schichten
- Nanoindentation der gestrahlten Oberfläche
- Nano-Dehngrenze von Mems
- Nanokratzer am Stent
- Nanokratzer auf Mikrostreifen
- Nano-Verschleiß des Implantats
- Mikrokratzer an Aluminiumteilen
Berührungslose 3D-Profilometrie:
- Profil der mikrobearbeiteten Oberfläche
- Profil der Eloxaloberfläche
- Ebenheit der Mikrospuren
- Rauhigkeit der gestrahlten Oberfläche
- Topographie der Holzoberfläche
- Stufenhöhe des Mikrokanals
- Stufenhöhe der gedruckten Elektronik
Tribologie:
- Reibungsprüfung von Silizium
- Ptfe-Beschichtung Verschleiß Reibungsprüfung
- 36 Stunden Verschleißrate der DLC-Beschichtung
- Abriebfestigkeit von Glas
- Verschleißfestigkeit von Graphit bei hohen Temperaturen
Hier finden Sie Beispiele für Materialien, die wir diesen Monat getestet haben:
Mechanisch:
- Nanobruch von Keramik
- Nanokratzer auf mikroelektronischer Beschichtung
- Nanokratzer in medizinischen Beschichtungen
- Nanokompression von Mikromerkmalen
- Nanostress-Solarfolie
- Mikrokratzer der TiN-Beschichtung
- Mikroindentation von Beton
Berührungslose 3D-Profilometrie:
- Texturmuster von Brüchen
- Ebenheit des Flip-Chips
- Planarität von mikroelektronischen
- Profil der Zahnproben
- Rauheit der Mikrovertiefungen
- Rauheit von mikro-medizinischen Teilen
- Schritt Höhe der Lotpaste
- Reibungskoeffizient Polyurethan-Beschichtung
- Reibungskoeffizient medizinischer Kunststoff
- 24 Std. Verschleißfestigkeit von beschichtetem Glas
- Verschleißfestigkeit von getauchten Implantaten
- Chromkarbidbeschichtung Verschleißfestigkeit
Hier finden Sie Beispiele für Materialien, die wir diesen Monat getestet haben:
Mechanisch:
- Nanokratzer auf Verbundfolie
- Nanokratzer an Verbundproben
- Nanokratzer aus hartem Polymer
- Nano-Verschleiß des Implantats
- Nanoindentaion von Waferproben
- Mechanische Eigenschaften von Laserschweißnähten mit Nanoindentation
- Mikroindentation von Gestein
Berührungslose 3D-Profilometrie:
- Rauhigkeit der Druckwalzen
- Rauheit der Mikrokegel
- Rauheit von Zahnimplantaten
- Topographie eines lasergeätzten Polymers
- Ebenheit von Keramikproben
- Höhenunterschiede bei Mikrohügeln
- Koplanarität der Oberfläche der Werkzeugspitze
- Tiefenkonsistenz von Mikrokanälen
Tribologie:
- Reibungskoeffizient von Pulvern
- Reibungskoeffizient Gele
- Reibungskoeffizient von Griffproben
- Verschleißfestigkeit von Motorteilen
- Verschleißfestigkeit von Hartfasern
- Verschleißfestigkeit von Hartglasverbundwerkstoffen
Hier finden Sie Beispiele für Materialien, die wir diesen Monat getestet haben:
Mechanisch:
- Nanokratzer auf Solarfolie
- Nanokratzer aus Mikrodrähten
- Nano-Verschleiß von Verbundwerkstoffdichtungen
- Nanoindentaion von Waferproben
- Nanoindentation von mineralischen Partikeln
- Nano-Komprimierung von Silizium
- Mikrobruchzähigkeit von Kohlenstoff
3D Berührungslos Profilometrie:
- Rauheit von dünnem klarem Kunststoff
- Rauhigkeit des O-Rings
- Messung der sandgestrahlten Stahltextur
- Abmessungen des Mikrobauteils
- Topographie des Felsbohrkopfes
- Profil der Mikromerkmale
- Stufenhöhe von dünnen Schichten
- CoPlanarität des samtec Steckers
Tribologie:
- Reibungskoeffizient von poliertem Beton
- Reibungskoeffizient Elastomer
- Verschleißfestigkeit des Hartplastikgehäuses
- Verschleißfestigkeit der Hartkohlenstoffbeschichtung
- Verschleißfestigkeit der Epoxidbeschichtung
Die Veröffentlichung des echten tragbaren Profilometers Jr25
Nov, 2010 (Irvine, CA) - Das Nanovea Jr25, das berührungslose tragbare 3D-Profilometer, ist das erste wirklich tragbare Hochleistungs-Profilometer seiner Art. Mit einem optionalen Akkupack und einer Tragetasche bietet das Jr25 Messmöglichkeiten, die bei Feldstudien nur selten verfügbar sind. Das Jr25 ist so konstruiert, dass es die neuesten optischen Stifte mit überlegener Weißlicht-Axialchromatismus-Messung problemlos einsetzen kann. Der Nano- bis Makrobereich kann während der Messung (Profil/Dimension, Rauheit/Finish/Textur, Form/Form/Topographie, Ebenheit/Verwerfung, Volumenbereich, Stufenhöhe/Tiefe/Dicke und andere) bei einer größeren Bandbreite von Geometrien und Materialien als bei jedem anderen Gerät erfasst werden. Profilometer und jetzt mit echter Tragbarkeit. Mit einem Gesamtgewicht von weniger als 5,5 kg kann der Bediener den Jr25 sicher auf der zu prüfenden Oberfläche platzieren. Der Jr25 kann eine Fläche von bis zu 25 mm x 25 mm messen, und je nach optischem Stift eine Tiefe von bis zu 27 mm und eine Auflösung von bis zu 5 nm. Die Fokussierung der Oberfläche erfolgt manuell mit einem leichtgängigen Mikrometer und einem Verfahrbereich von 30 mm. Es können nahezu alle Oberflächenarten gemessen werden, unabhängig davon, wie reflektierend/unreflektierend, transparent/opak oder spiegelnd/diffus das Material ist. Mit seinem vollständig drehbaren, einachsigen Messkopf kann das Jr25 auch Oberflächen in schwierigen Winkeln messen. Neben der schnellen und einfachen Bedienung wurde das Jr25 speziell für Produktionsumgebungen entwickelt, in denen die Proben nicht bewegt werden können, sowie für Untersuchungen im Freien. "Die Tür für unsere berührungslose 3D-Messtechnik ist nun geöffnet worden, um Umgebungen zu erreichen, die von dieser Art von Messmöglichkeiten unberührt sind; vom Mond bis zur Wüste und alles dazwischen. Mit dieser Art von Messressource an der Seite ist das Feld wirklich zum Labor geworden." - Craig Leising | Produktmanager
US-Hersteller von Nanotechnologie-Instrumenten beweist den Erfolg der FuE-Förderung
Irvine, Kalifornien, 25. Januar 2010 - Wie viele andere im Land fragen Sie sich vielleicht, wie die Milliarden, die in die wissenschaftliche Forschung und Entwicklung geflossen sind, unsere Wirtschaft angekurbelt haben. Ein Blick auf den Hersteller von Nanotechnologie-Instrumenten, Nanovea mit Sitz in Irvine, Kalifornien, genügt. 2009 war das erste Markenjahr des Unternehmens mit neuen Mitarbeitern, neuen Instrumenten und mehr Aufträgen für die örtlichen Maschinenbauer und Zulieferer. In seiner Niederlassung in Irvine, Kalifornien, entwickelt und fertigt Nanovea 3D Profilometer, Mechanische Prüfgeräte & Tribometer um die fortschrittlichsten Testmöglichkeiten der Branche zu kombinieren: Kratzer, Haftung, Härte, Verschleiß, Reibung und berührungslose 3D-Metrologie im Nano-, Mikro- und Makrobereich. Im Gegensatz zu anderen Herstellern bietet Nanovea auch Labordienstleistungen an, die den Kunden Zugang zu den neuesten Technologien und optimalen Ergebnissen durch Verbesserungen der Materialteststandards bieten. Was hat Nanovea nun mit der Förderung der Forschung in den Vereinigten Staaten zu tun? Nun, zufälligerweise alles, und hier ist der Grund dafür. Die Anreize für Forschungslabors, Universitäten und Unternehmen waren für die Entwicklung neuer Innovationen und Materialien zur Unterstützung wachsender Branchen wie Solar, Energie, Biomedizin usw. gedacht. Die Entwicklung neuer oder verbesserter Materialien erfordert neue Instrumente, um die Materialeigenschaften während der Forschung und Entwicklung zu messen und zu gewährleisten. Außerdem werden Instrumente benötigt, um die Massenentwicklung dieser neuen Materialien zur Qualitätskontrolle zu überwachen. Nanovea hatte seit 2004 Instrumente für genau diesen Zweck entwickelt und hergestellt und sich auf die Markteinführung Ende 2008 vorbereitet. Unter der Leitung eines neu eingestellten Marketingmanagers bereitete Nanovea seine Markteinführung in einer der schwierigsten wirtschaftlichen Zeiten vor, die die USA je erlebt haben. Nanovea nahm die Herausforderung an und nutzte die Bedürfnisse der Forschungsgemeinschaft sowohl in den USA als auch international voll aus. Mit drei klaren Produktlinien und Dienstleistungen bot Nanovea im Jahr 2009 Lösungen für wachstumsstarke Branchen an, die Messungen im Nano- bis Makromaßstab benötigen. Das Jahr 2010 hat bereits mit mehreren neuen Projekten in der ganzen Welt und mit lokalen Kunden aus der Solar-, Pharma- und Medizinbranche in Kalifornien begonnen. "Als US-amerikanischer Hersteller von Nano-Instrumenten und -Dienstleistungen haben sich uns in dieser Zeit einige großartige Möglichkeiten geboten, unsere Marke zu etablieren. Wir sind sehr dankbar und auch sehr stolz darauf, dass wir die Wirtschaft mit neuen Mitarbeitern und Geschäften für unsere lokalen Partner unterstützen konnten." -Pierre Leroux, Nanovea Präsident | Ceo
Nanometer-Online-Inspektion mit dem berührungslosen 3D-Profilometer Nanovea
Irvine, Kalifornien, 05. Januar 2010 - Das berührungslose 3D-Profilometer von Nanovea verfügt jetzt über eine optionale Online-Funktion für die automatische Prüfung und Berichterstellung. Mit dieser Weiterentwicklung wird Nanovea's Profilometer kann nun mühelos in große oder kleine Qualitätskontrollumgebungen integriert werden. Wichtige Anwendungen in allen Industriezweigen, die früher mit Bildverarbeitungssystemen oder Messtastern geprüft wurden, können jetzt mit der Sicherheit der berührungslosen Hochgeschwindigkeitsmessung im Nanometerbereich geprüft werden. Dies ist besonders wichtig für die Chargenproduktion mit engen Toleranzgrenzen, die nun einfach überwacht werden können, um die Qualitätskontrolle über Online-Kommunikation sicherzustellen. Mit dieser neuen Funktion können Anwendungen automatisch gescannt und auf der Grundlage von Anweisungen in einer Serverdatenbank analysiert werden. Die Online-Inspektionsfunktion ermöglicht das automatische Scannen der Produkt-ID mit einem Barcode-Lesegerät (kann auch manuell eingegeben werden); die Produkt-ID wird dann mit vordefinierten Pass/Fail- und Messanforderungen verglichen, die in einer Unternehmensdatenbank gespeichert sind. Das Teil wird automatisch gemessen, und nach Abschluss wird automatisch ein Bericht erstellt. Der Bericht und die Gut/Schlecht-Informationen werden automatisch an den Server zurückgeschickt und unter der Teilenummer gespeichert. Die Messgeschwindigkeiten reichen von 1m/s bis zu 31.000 Punkten/Sekunde mit einer Genauigkeit im Nanometerbereich. Es gibt verschiedene Scantypen, Analysefunktionen und Größenoptionen, die für Anwendungen in allen Branchen angepasst werden können. "Dies ist eine sehr interessante Möglichkeit für Nanovea. Unsere Profilometer können die Online-Inspektion derzeit am besten nutzen, aber es ist auch eine neue Option für unsere mechanischen Prüfgeräte, wenn die Härte für die Qualitätskontrolle genutzt werden kann."
-Craig Leising, Produktmanager
Bahnbrechende Nanoindentationstests mit Bildmustererkennung
Irvine CA, 1. April 2009 - Die Nanovea gab heute eine bahnbrechende Entwicklung in der Nanoindentation durch die Kombination fortschrittlicher Bildmustererkennungsfunktionen mit dem modernsten Nanoindentationsgerät für Qualitätskontrollanwendungen. Nanovea hat jetzt seine PRVision-Kameraoption für die maschinelle Bildverarbeitung mit der Nanoindentationsprüfung kombiniert, die eine automatische Erkennung genau ausgewählter Merkmale mit wenig bis gar keiner Benutzerinteraktion ermöglicht. Die benutzerfreundliche Software PRVision von Nanovea ermöglicht eine automatische Prüfung der Härte und des Elastizitätsmoduls an gemusterten Proben oder speziell ausgewählten Bereichen von Interesse. Die Nanoindentationseigenschaften, einschließlich Härte und Elastizitätsmodul, können dann automatisch gemessen und aufgezeichnet werden. Die "quasi zerstörungsfreie" geringe Belastung, die mit der Nanoindentationsprüfung verbunden ist, macht diese Technik zu einem idealen, bahnbrechenden Werkzeug für die Qualitätskontrolle in Bereichen, in denen Härte und Elastizitätsmodul entscheidend sind: Mikroelektronik, Solar, Pharmazeutika und viele andere. "Bislang wurde die Nanoindentation mit primitiven Mapping-Optionen durchgeführt. Unsere PRVision-Option wird die Nanoindentationstests beschleunigen und öffnet die Tür zu groß angelegten automatischen Qualitätskontrollanwendungen in der Produktion, bei denen Härte und Elastizitätsmodul die besten Kontrollparameter sind." Sagte Pierre Leroux, CEO/Präsident von Nanovea.
Top-Halbleiterhersteller wählt Nanovea-Profilometer über viele
Irvine CA, 5. März 2009 - Nanovea gab heute bekannt, dass das Unternehmen sein erstes HS1000 Profilometer an einen führenden Halbleiterhersteller ausliefern wird. Die Auslieferung des HS1000 ist ein weiterer Höhepunkt in der beeindruckenden Geschichte der optischen Profilometer von Nanovea und bietet den Kunden eine fortschrittlichere Messgeschwindigkeitsoption für hohe Durchsatzanforderungen. Das HS1000 Profilometer ist mit einer unübertroffenen Kombination aus Messgeschwindigkeit, Automatisierung und Nanometerauflösung ausgestattet. Bis zum HS1000 Profilometer von Nanovea waren die vollständige Automatisierung und die einzigartigen Vorteile der axialen Weißlicht-Chromatisierungstechnik Merkmale, die nur selten in einem einzigen Gerät mit hoher Scangeschwindigkeit zu finden waren; ein Merkmal, das der Kunde forderte und das nur Nanovea liefern konnte. Herkömmliche Hochgeschwindigkeitsinstrumente opferten in der Regel eine Eigenschaft für eine andere, nämlich die Geschwindigkeit oder die Auflösung, was die Gesamtmesskapazität des Benutzers einschränkte. Das HS1000 Profilometer erreicht eine Tischgeschwindigkeit von 1 m/s und ist damit bis zu 50 Mal schneller als die meisten optischen Profilometer seiner Klasse. Das HS1000 Profilometer ist mit einem 31KHz Weißlicht-Axialchromatismus-Sensor und einem XY-Messbereich von 400mm x 600mm ausgestattet, der bei maximaler Tischgeschwindigkeit alle 32µm einen Punkt messen und die vollen 400mm in weniger als 1 Sekunde durchfahren kann (eine höhere Auflösung kann mit proportional langsameren Tischgeschwindigkeiten erreicht werden). Darüber hinaus verfügt das HS1000 Profilometer über eine optionale Bildverarbeitungskamera, die eine automatische Erkennung von genau ausgewählten Oberflächenmerkmalen mit wenig bis gar keinem Benutzereingriff ermöglicht. Die benutzerfreundliche Software und die optionale Bildverarbeitungskamera ermöglichen einen automatischen Scan der Oberfläche, um alle interessanten Merkmale zu erkennen. Diese Merkmale können dann automatisch gemessen werden, oder der Benutzer kann aus einer Liste auswählen, was gemessen werden soll. Die Kombination aus überlegenen Gesamteigenschaften macht das HS1000 Profilometer ist zweifellos das Instrument der Wahl für hohe Durchsatzanforderungen in der Halbleiter-, Solar- und pharmazeutischen Industrie. "Es versteht sich von selbst, wie wichtig es ist, die Wahl dieses Kunden zu gewinnen. Ich bin stolz auf die Fähigkeit unseres Teams, eine so wichtige Gelegenheit zu nutzen", sagte Craig Leising, Produktmanager bei Nanovea.
Nanovea Profilometer erhält "Klasse 1"-Reinraumzulassung
Irvine, Kalifornien, 22. Januar 2009 - Nanovea Inc. gab heute die erfolgreiche Installation ihres Profilometers im Reinraum der Klasse 1 bei einem führenden Mikroelektronikhersteller bekannt. Die Freigabe von Reinräumen der Klasse 1 ist bekannt für die strenge Einhaltung der Vorschriften und die besonderen Anforderungen an alle bei der Entwicklung des Geräts verwendeten Materialien. Die fortschrittlichen, berührungslosen 3D-Profilierungsfähigkeiten der Nanovea-Profilometer sind nun eine Option für die strengsten Reinraumanforderungen in der Mikroelektronik. Durch die Verwendung von "sauberen" motorisierten Lineartischen und die richtige Auswahl von Materialien haben die Ingenieure von Nanovea ein System entwickelt, das mit den strengen Klasse-1-Standards kompatibel ist. Reinräume der Klasse 1 haben einen streng kontrollierten Verschmutzungsgrad und lassen nur sehr wenige Partikel jeglicher Art zu. Bei der Konstruktion der X-Y-Tische war die Materialauswahl entscheidend, damit während der Prüfung nur wenige Partikel in die Luft abgegeben werden. Das System wurde außerdem mit einem hohen Maß an Ebenheit und Genauigkeit sowie mit einem Automatisierungsgrad entwickelt, der es dem Benutzer ermöglicht, mehrere Bereiche zu messen und diese zusammenzufügen. Auf diese Weise kann der Benutzer eine große, ebene Fläche erstellen, um die relative Ebenheit mit sehr wenig Benutzerinteraktion zu vergleichen. Der messbare Bereich des benutzerdefinierten Profilers kann bis zu 30 cm x 30 cm groß sein, mit einer vertikalen Auflösung von bis zu 2 nm. Es gibt auch ein Design zum Scannen großer, schwerer und sogar unbeweglicher Teile. Dies ist nur ein kleiner Einblick in die Projekte, die von den Nanovea-Ingenieuren angepasst wurden. Sie haben auch ein kundenspezifisches Hochgeschwindigkeits-Profilometer mit Geschwindigkeiten von über 30.000 Punkten/Sekunde und maschinellem Sehen mit Bilderkennung zur Verbesserung der Effizienz entwickelt. Zusätzlich, Profilometer wurden mit kundenspezifischen Scanfunktionen ausgestattet, um Oberflächenmessungen sowohl von der Ober- als auch von der Unterseite zu erfassen und gleichzeitig die Dicke des Materials zu messen, und zwar mit einer Auflösung im Nanometerbereich. "Die zusätzliche Reinraumausführung ermöglicht Nanovea eine engere Zusammenarbeit mit strengen Umgebungen und zeigt einmal mehr unser Engagement für Erfindungsreichtum". Sagte Craig Leising, Produktmanager von Nanovea, Inc.