Bezdotykowy profilometr 3D

Optyczny profilometr NANOVEA to bezdotykowy profilometr 3D zbudowany w technologii chromatycznej konfokalnej, która wykorzystuje długości fal światła do dokładnego wyznaczania rzeczywistej wysokości. Oferta optycznych profilometrów NANOVEA obejmuje modele kompaktowe, wolnostojące i przenośne. Szybkie czujniki pozwalają skanować duże powierzchnie z wysoką dokładnością.

Jeden skan profilometrem daje szeroki zakres pomiarów: od falistości 3D, chropowatości, wysokości stopnia i/lub grubości warstwy po zaawansowaną analizę fraktalną i charakteryzację mikrostruktury i cząstek.

W technologii chromatycznej konfokalnej światło białe przechodzi przez układ soczewek o silnej aberracji chromatycznej. Każda długość fali ogniskuje się w innej odległości, tworząc pionowy zakres pomiarowy. Gdy badana powierzchnia znajduje się w tym zakresie, ostra jest tylko jedna długość fali światła białego, a wszystkie pozostałe są nieostre. Tylko zogniskowana długość fali przechodzi przez przesłonę otworkową i dociera do spektrometru CCD. Zmierzona długość fali odpowiada położeniu w pionie.

MODELE OPTYCZNYCH PROFILOMETRÓW NANOVEA

Przenośny kompaktowy profilometr JR25

Przenośny

Kompaktowy

Przenośny szybki profilometr JR100

Przenośny

Szybki

Profilometr ST400

Modułowy

Standard

Modułowy szybki profilometr ST500

Modułowy

Duży obszar

Nie wiesz, którego profilometru potrzebujesz? Porównaj modele w naszym poradniku zakupowym