
This page is also available in English. Read it in English →
Diese Seite gibt es auch auf Deutsch. Auf Deutsch lesen →
Esta página también está disponible en Español. Leer en Español →
Cette page existe aussi en Français. Lire en Français →
Questa pagina è disponibile anche in Italiano. Leggi in Italiano →
이 페이지는 한국어로도 제공됩니다. 한국어로 읽기 →
Esta página também está disponível em Português. Ler em Português →
Bu sayfa Türkçe olarak da mevcut. Türkçe oku →
Optyczny profilometr NANOVEA to bezdotykowy profilometr 3D zbudowany w technologii chromatycznej konfokalnej, która wykorzystuje długości fal światła do dokładnego wyznaczania rzeczywistej wysokości. Oferta optycznych profilometrów NANOVEA obejmuje modele kompaktowe, wolnostojące i przenośne. Szybkie czujniki pozwalają skanować duże powierzchnie z wysoką dokładnością.
Jeden skan profilometrem daje szeroki zakres pomiarów: od falistości 3D, chropowatości, wysokości stopnia i/lub grubości warstwy po zaawansowaną analizę fraktalną i charakteryzację mikrostruktury i cząstek.
W technologii chromatycznej konfokalnej światło białe przechodzi przez układ soczewek o silnej aberracji chromatycznej. Każda długość fali ogniskuje się w innej odległości, tworząc pionowy zakres pomiarowy. Gdy badana powierzchnia znajduje się w tym zakresie, ostra jest tylko jedna długość fali światła białego, a wszystkie pozostałe są nieostre. Tylko zogniskowana długość fali przechodzi przez przesłonę otworkową i dociera do spektrometru CCD. Zmierzona długość fali odpowiada położeniu w pionie.
Nie wiesz, którego profilometru potrzebujesz? Porównaj modele w naszym poradniku zakupowym
