비접촉 3D 프로파일로미터

NANOVEA 광학 프로파일로미터는 빛의 파장을 이용해 물리적 높이를 정확하게 측정하는 공초점 색수차 기술로 설계된 비접촉 3D 프로파일로미터입니다. NANOVEA 광학 프로파일로미터에는 소형, 독립형, 휴대형 모델이 있습니다. 넓은 표면을 높은 정확도로 스캔하는 고속 센서도 제공합니다.

한 번의 프로파일로미터 스캔으로 3D 굴곡도, 거칠기, 단차 및 막 두께부터 고급 프랙탈 분석, 미세조직·입자 특성 분석까지 폭넓은 측정값을 얻을 수 있습니다.

공초점 색수차 기술에서는 백색광이 색수차가 큰 여러 렌즈를 통과합니다. 파장마다 서로 다른 거리에서 초점이 맺혀 수직 측정 범위가 만들어집니다. 측정하려는 표면이 이 범위 안에 있으면 백색광 중 단 하나의 파장만 초점이 맞고 나머지는 모두 초점에서 벗어납니다. 초점이 맞은 파장만 핀홀 필터를 통과해 CCD 분광기에 도달합니다. 측정된 파장은 하나의 수직 위치에 대응합니다.

프로파일로메트리 – 공초점 색수차 센서 기술
자세히 보기
브로슈어 다운로드
견적 요청

NANOVEA 광학 프로파일로미터 모델

휴대형 소형 프로파일로미터 JR25

휴대형

소형

휴대형 고속 프로파일로미터 JR100

휴대형

고속

프로파일로미터 ST400

모듈형

표준

모듈형 고속 프로파일로미터 ST500

모듈형

대면적

어떤 프로파일로미터가 필요한지 잘 모르시겠습니까? 구매 가이드에서 전체 모델을 비교해 보세요

2D & 3D 비접촉 프로파일로메트리

표면 거칠기 및 표면 마감
거칠기 & 마감
표면 텍스처 및 입자
텍스처 & 입자
표면 형상 및 모양
형상 & 모양
단차 및 코팅 두께
단차 & 두께
표면 차감 및 손실 부피
부피 & 면적
표면 평탄도 및 휨
평탄도 & 휨

응용 분야 & 산업

더 보기

다음 단계:

지금 전문가와 상담하기
가격 & 상세 정보 받기
휴대형 고속 프로파일로미터 JR100