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Oberflächenbeschaffenheit von Quarzkristall-Mikrowaagen
Eine zuverlässige Qualitätskontrolle hängt stark von einer genauen, quantifizierbaren und reproduzierbaren Oberflächenprüfung ab. Ebenheit und Oberflächenbeschaffenheit der Quarzkristall-Mikrowaage (QCM) sind entscheidend für ihre Genauigkeit, und beide Messungen in 3D garantieren eine ordnungsgemäße Fertigungsverarbeitung und Kontrollmaßnahmen. Anders als bei der Tastertechnik ist das Nanovea Profilometer führt eine berührungslose 3D-Oberflächenmessung der Probe durch. Dadurch wird das Risiko vermieden, dass Mikrokratzer auf der QCM-Oberfläche entstehen, die zu Ungenauigkeiten oder Fehlern bei der Massenmessung führen können.
