Micro Photonics stellt duales Scanning-Profilometer und Scanning-Instrument vor

Irvine, Kalifornien, 25. Januar 2005 - Micro Photonics Inc. kündigte heute die neueste Ergänzung seiner Produktlinie von Geräten zur Prüfung von Oberflächenmaterialien an. Das Dual Scanning Profilometer ist das erste seiner Art, das eine gleichzeitige Dickenmessung und eine doppelte Profilmessung ermöglicht. Der Probentisch wird auf einer Plattform zwischen den beiden Stiften befestigt und bewegt sich in x-y-Richtung, so dass die beiden Sonden ein synchronisiertes Oberflächenprofil ermitteln können. Die Systemsoftware berechnet den bekannten Abstand zwischen den Stiften mit der Wellenlänge des einfallenden weißen Lichts, das von der Probenoberfläche reflektiert wird, um die Dicke der Probe an jedem beliebigen Punkt zu bestimmen. Nach dem Prinzip der chromatischen Aberration lassen zwei Stifte weißes Licht durch die Objektivlinse fallen und reflektieren dieses Licht von der Probenoberfläche. Das Objektiv sammelt dann die Wellenlänge des einfallenden weißen Lichts und fokussiert es in einem variablen Abstand vom Objektiv neu. Diese exklusive Technologie ist von Micro Photonics Inc. erhältlich. Micro Photonics ist seit mehr als zwölf Jahren ein führender Anbieter von Instrumenten für die Werkstofftechnik und Laborprüfungen. Das Unternehmen ist spezialisiert auf: Nano- und mikromechanische Prüfung, Röntgenmikrotomographie, Ellipsometrie, Röntgenbeugung, berührungslose 3D-Prüfung ProfilometerDünnschichtanalyse, biologische Bildgebungsinstrumente und NSOM-, SPM- und AFM-Systeme.