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AR Category : Profilométrie | Hauteur et épaisseur des marches
Mesure d'un film transparent sur un substrat transparent
Le profilomètre Nanovea PS50 est utilisé pour la mesure de la rugosité, de l'épaisseur de la hauteur de marche et de l'épaisseur optique d'un film mince transparent sur un substrat en verre transparent. La hauteur de marche sera obtenue en mesurant une zone du film et une zone où le substrat est exposé pour la différence de hauteur relative, tandis que l'épaisseur optique sera mesurée en utilisant le profilomètre PS50. Profilometer capacité de mesurer à travers le film transparent et de détecter une réflexion provenant à la fois de la surface supérieure du film et du substrat simultanément.
Mesure de films transparents sur des substrats transparents par profilométrie 3D
Mesure de la profondeur des micro-rayures à l'aide de la profilométrie 3D
Dans cette application, le Nanovea ST400 Profilometer est utilisé pour mesure de la profondeur d'une rangée de micro rayures créées grâce aux technologies de Nanovea Testeur Méchanique en mode scratch. En quelques secondes, le profilomètre, avec un seul passage de ligne en mode 2D, fournit une mesure de surface et de profondeur.
Mesure de la profondeur des micro-rayures par profilométrie 3D
