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Inspektion von Steckerstiften mit 3D-Profilometrie
Bei dieser Anwendung wird das Nanovea ST400 Profilometer wird zur Messung der gesamten Fläche eines Steckverbinders und seiner Stifte verwendet. Die Anwendung wurde aufgrund ihrer anspruchsvollen Eigenschaften ausgewählt, um die Messmöglichkeiten mit der Nanovea-Technik zu verdeutlichen. Es gibt eine endlose Liste von Oberflächenparametern, die nach dem Oberflächenscan automatisch berechnet werden können. Hier werden wir ein vollständiges 3D-Profil, die Ebenheit der Steckerbasis, die Koplanarität der Stifte und die Rauheit einer Stiftspitze untersuchen.
