Statistische Analyse der Oberflächenrauheit mit 3D-Profilometrie

In dieser Anwendung wird das Nanovea ST400 Profilometer wird zur Messung von über 30 Coupons mit ähnlichen Oberflächenmerkmalen mit nur geringen Unterschieden verwendet. Die Oberflächen wurden auf folgende Parameter untersucht Oberflächenrauhigkeit, maximale Höhe, maximale Peakhöhe und Wurzel aus dem Quadrat. Anschließend wurde eine statistische Analyse anhand von Histogrammen, Tabellen, Kontrollkarten, Boxplots und
Streudiagramme.

Statistische Analyse der Oberflächenrauheit mit 3D-Profilometrie