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Aqui estão exemplos de materiais que testamos este mês:

laboratório mecânico

Mecânica:

- Oscilação da nanoindentação de filmes finos
- Nanoindentação de superfície polida
- Nano yield strength of mems
- Nano arranhão de stent
- Nano arranhão de microstrip
- Nano desgaste do implante
- Micro arranhão de peças de alumínio

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Profilometria 3D Sem Contato:

- Perfil da superfície micro usinada
- Perfil da superfície de anodização
- Planaridade das micro marcas
- Rugosidade da superfície polida
- Topografia da superfície de madeira
- Altura do degrau do micro canal
- Altura do degrau da eletrônica impressa

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Tribologia:
- Teste de fricção do silício
- Teste de fricção por desgaste do revestimento Ptfe
- Taxa de desgaste de 36 horas de revestimento dlc
- Resistência ao desgaste do vidro
- Alta resistência ao desgaste por temp. de grafite

Aqui estão exemplos de materiais que testamos este mês:

laboratório mecânico

Mecânica:

- Nanofratura de cerâmica
- Nano arranhão de revestimento microeletrônico
- Nano arranhão de revestimento médico
- Nano compressão de micro característica
- Filme solar de tensão nanométrica
- Micro-risco do revestimento TiN
- Microindentação de concreto

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Profilometria 3D Sem Contato:

- Padrões de textura da fratura
- Flatness do chip flip
- Planaridade da microeletrônica
- Perfil das amostras odontológicas
- Rugosidade do micro furos
- Rugosidade das micro peças médicas
- Passo Altura da pasta de solda

tribologia-lab
Tribologia:

- Coeficiente de atrito de revestimento de poliuretano
- Coeficiente de fricção do plástico médico
- 24h Resistência ao desgaste do vidro revestido
- Resistência ao desgaste do implante submerso
- resistência ao desgaste do revestimento de carboneto de cromo

Aqui estão exemplos de materiais que testamos este mês:

laboratório mecânico

Mecânica:

- Nano arranhão de folha composta
- Nano arranhão de amostras compostas
- Nano arranhão de polímero duro
- Nano desgaste do implante
- Nanoindentaion de amostras de wafer
- Propriedades mecânicas das soldas a laser com Nanoindentação
- Microindentação de rochas

profilometria-lab
Profilometria 3D Sem Contato:

- Rugosidade dos rolos de impressão
- Rugosidade dos micro cones
- Rugosidade dos implantes dentários
- Topografia de polímeros gravados a laser
- Planicidade das amostras de cerâmica
- Variações de altura de micro solavancos
- Coplanaridade da superfície do bit da ferramenta
- Consistência da profundidade dos micro canais

tribologia-lab
Tribologia:

- Coeficiente de pós de fricção
- Coeficiente de géis de fricção
- Coeficiente de atrito de amostras de aderência
- Resistência ao desgaste de peças de motor
- Resistência ao desgaste da fibra dura
- Resistência ao desgaste do compósito de vidro duro

Aqui estão exemplos de materiais que testamos este mês:

laboratório mecânico

Mecânica:

- Nano arranhão de filme solar
- Nano arranhão de micro fios
- Nano desgaste dos selos compostos
- Nanoindentaion de amostras de wafer
- Nanoindentação de partículas minerais
- Nano Compressão de silício
- Microfratura Resistência da microfratura de carbono

profilometria-lab
3D Não-Contato Profilometria:

- Rugosidade do plástico fino transparente
- Rugosidade do o-ring
- Medição da textura do aço jateado a jato de areia
- Dimensão do micro componente
- Topografia da cabeça de perfuração de rocha
- Perfil das micro características
- Passo Altura dos filmes finos
- CoPlanaridade do conector samtec

tribologia-lab
Tribologia:

- Coeficiente de atrito concreto polido
- Coeficiente de elastômero de fricção
- Resistência ao desgaste do invólucro de plástico duro
- Resistência ao desgaste do revestimento de carbono duro
- Resistência ao desgaste do revestimento epoxídico

O lançamento do Jr25 True Portable Profilometer

Nov, 2010 (Irvine, CA) - O Nanovea Jr25, 3D Non Contact Portable Profilometer, é o primeiro Profilometer de alto desempenho verdadeiramente portátil de seu tipo. Com uma bateria opcional e estojo de transporte, o Jr25 oferece capacidade de medição raramente disponível durante o estudo de campo. O Jr25 é projetado para utilizar facilmente canetas ópticas de ponta usando medição de cromatismo axial de luz branca superior. Nano através da faixa macro pode ser obtida durante a medição (Perfil/Dimensão, Roughness/Finish/Texture, Forma/Forma/Topografia, Flatness/Warpage, Área de Volume, Step-Height/Depth/Thickness e outros) em uma faixa mais ampla de geometrias e materiais do que qualquer outra Profilômetro e agora com verdadeira capacidade portátil. Com um peso total inferior a 5,5 Kg, o operador pode colocar o Jr25 com segurança na superfície sob inspeção. O Jr25 tem a capacidade de medir uma área de até 25mm x 25mm, e dependendo da caneta óptica, uma profundidade de até 27mm e uma resolução de até 5nm. O foco da superfície é obtido manualmente com um micrômetro de toque suave e alcance de 30 mm de percurso. Superfícies de quase qualquer tipo podem ser medidas independentemente de quão reflexivo/não reflexivo, transparente/opaco ou especular/difusivo o material é. Com um eixo totalmente rotativo e único, o Jr25 tem a capacidade de medir superfícies em ângulos difíceis. Junto com a rapidez e facilidade de uso, o Jr25 foi projetado especificamente para ambientes de produção onde as amostras não podem ser movimentadas e estudos em campo aberto. "A porta foi agora aberta para que nossa técnica 3D sem contato alcance ambientes intocáveis por este tipo de capacidade de medição; desde a lua até o deserto e tudo o que está entre eles". O campo tornou-se verdadeiramente o laboratório com este tipo de recurso de medição ao seu lado". - Craig Leising | Gerente de Produto

Fabricante americano de instrumentos de nanotecnologia comprova o sucesso do estímulo à P&D

Irvine CA, 25 de janeiro de 2010 - Como muitos em todo o país, você pode estar se perguntando como os bilhões de dólares investidos na P&D científica têm ajudado a estimular nossa economia. Bem, não procure mais do que a fabricação de instrumentos nanotecnológicos, Nanovea com sede em Irvine, CA. 2009 acaba de terminar como seu primeiro ano de marca com novas contratações, novos instrumentos e mais negócios para enviar a suas lojas de máquinas locais e fornecedores de peças. De seu escritório em Irvine, CA, a Nanovea projeta e fabrica instrumentos 3D Perfilômetros, Testadores Mecânicos & Tribômetros para combinar as capacidades de teste mais avançadas da indústria: Raspadinha, Adesão, Dureza, Desgaste, Fricção e Metrologia 3D sem contato na linha Nano, Micro e Macro. Ao contrário de outros fabricantes, a Nanovea também fornece serviços de laboratório, oferecendo aos clientes disponibilidade de tecnologia de ponta e ótimos resultados através de melhorias nos padrões de testes de materiais. Então, o que a Nanovea tem a ver com o estímulo dado à pesquisa nos Estados Unidos? Bem por coincidência, tudo e aqui está como. O estímulo dado aos laboratórios de pesquisa, universidades e empresas foi destinado ao desenvolvimento de novas inovações e materiais para apoiar indústrias em crescimento, tais como solar, energia, biomédica, etc. Para criar novos, e ou melhorar, o material requer novos instrumentos para medir e assegurar as características do material durante a pesquisa e desenvolvimento. Então, a instrumentação também seria necessária para monitorar o desenvolvimento em massa desses novos materiais para o controle de qualidade. A Nanovea vinha projetando e fabricando instrumentos para este mesmo fim desde 2004 e se preparava para o lançamento de uma marca no final de 2008. Com a direção de um gerente de marketing recém-contratado, a Nanovea preparou seu lançamento em um dos tempos econômicos mais desafiadores que os EUA podem ter enfrentado. A Nanovea abraçou o desafio e aproveitou ao máximo as necessidades da comunidade de pesquisa tanto nos EUA quanto internacionalmente. Com três linhas claras de produtos e serviços, a Nanovea forneceu soluções ao longo de 2009 para indústrias de alto crescimento que precisavam de nanovea através de necessidades de medição em macro escala. Agora 2010 já começou com vários novos projetos em todo o mundo e com clientes locais nos setores solar, farmacêutico e médico em toda a Califórnia. "Ser um fabricante americano de nano instrumentos e serviços durante este tempo nos proporcionou algumas grandes oportunidades para estabelecer nossa marca. Estamos muito gratos e também muito orgulhosos por termos sido capazes de apoiar a economia com novas contratações e negócios para nossos parceiros locais". —Pierre LerouxPresidente de Nanovea | Ceo

Nanômetro Inspeção Online com Nanovea 3D Profilômetro Sem Contato

Irvine CA, Jan 05, 2010 - O Nanovea 3D Non-Contact Profilometer terá agora capacidade opcional on-line para inspeção automatizada e geração de relatórios. Com este avanço, o Nanovea's Profilômetro podem agora integrar-se sem esforço em ambientes de controle de qualidade grandes ou pequenos. Aplicações cruciais em todas as indústrias, que antes eram inspecionadas com visão e ou sonda de toque, agora serão inspecionadas com a garantia de medição de alta velocidade sem contato com nanômetros. Isto é especialmente crítico para produção em lotes com níveis de tolerância apertados que agora podem ser facilmente monitorados para assegurar o controle de qualidade através de comunicação on-line. Com este novo recurso, as aplicações podem ser automaticamente escaneadas e analisadas com base nas instruções encontradas em um banco de dados do servidor. O recurso de inspeção on-line permite a leitura automática da identificação do produto com um leitor de código de barras (também pode ser inserido manualmente); a identificação do produto é então verificada em relação aos requisitos pré-definidos de aprovação/falha e medição armazenados em um banco de dados da empresa. A peça é medida automaticamente e, após a conclusão, um relatório é gerado automaticamente. O relatório e as informações de aprovação/reprovação são automaticamente enviados de volta ao servidor e armazenados com esse número de peça. As velocidades de medição variam de 1m/s e 31.000 pontos/seg. com precisão de nanômetros. Há vários tipos de escaneamento, funções de análise e opções de tamanho que podem ser personalizadas para atender a aplicações em todas as indústrias. "Esta é uma capacidade muito interessante para a Nanovea. Nossos Profilômetros podem utilizar melhor a inspeção on-line neste momento, mas também é uma nova opção para nossos Ensaios Mecânicos quando a dureza pode ser usada para controle de qualidade".
Craig Leising, Gerente de Produto

Testes inovadores de nanoindentação com reconhecimento de padrões de imagem

Irvine CA, 1 de abril de 2009 - A Nanovea anunciou hoje um desenvolvimento revolucionário em Nanoindentação combinando capacidades avançadas de reconhecimento de padrões de imagem com o mais avançado nano-indentor para aplicações de controle de qualidade. A Nanovea combinou agora sua opção de câmera de visão mecânica, PRVision, aos testes de nanoindentação que permitem o auto-reconhecimento de características precisamente escolhidas com pouca ou nenhuma interação do usuário. O software de fácil utilização da PRVision da Nanovea permite um teste automático de dureza e módulo elástico em amostras padronizadas ou áreas de interesse especificamente escolhidas. As propriedades da nanoindentação, incluindo a dureza e o módulo elástico, podem então ser medidas e registradas automaticamente. As cargas baixas "quase não destrutivas" associadas aos testes de nanoindentação tornam esta técnica uma ferramenta ideal para monitorar o controle de qualidade de ambientes onde a dureza e o módulo elástico são cruciais: Microeletrônica, Solar, Farmacêutica e muitas outras. "A nanoindentação até agora era realizada utilizando opções de mapeamento primitivo. Nossa opção PRVision acelerará os testes de nanoindentação e abrirá a porta para aplicações de controle de qualidade de produção automática em larga escala onde a dureza e o módulo elástico são os melhores parâmetros de controle". disse Pierre Leroux, CEO/Presidente, Nanovea.

A Top Semiconductor Mfg escolhe o Nanovea Profilometer Over Many

Irvine CA, 5 de março de 2009 - A Nanovea anunciou hoje que enviará um Semicondutor Mfg de topo, seu primeiro Perfílômetro HS1000. A entrega do HS1000 acrescenta mais um destaque à impressionante história do Profiler Óptico da Nanovea e oferece aos clientes uma opção mais avançada de velocidade de medição para demandas de alto rendimento. Até o Profilômetro HS1000 da Nanovea, a automação completa e as vantagens únicas da técnica de cromatismo axial de luz branca eram características raramente encontradas em um único instrumento de alta velocidade de varredura; uma característica que o cliente solicitava e que somente a Nanovea podia fornecer. Os instrumentos tradicionais de alta velocidade tipicamente sacrificariam uma característica por outra, velocidade ou resolução, o que limitava a capacidade geral de medição dos usuários. A velocidade de estágio do Perfisômetro HS1000 pode chegar a 1m/s, até 50 vezes mais rápido do que a maioria dos perfis ópticos de sua classe. O Profilômetro HS1000 é equipado com um sensor cromatismo axial de luz branca de 31KHz e área de medição XY de 400mm x 600mm, que na velocidade máxima de estágio pode medir 1 ponto a cada 32µm e atravessar os 400mm completos em menos de 1 seg. (maior resolução pode ser obtida com velocidades de estágio proporcionalmente mais lentas). Além disso, o Profilômetro HS1000 tem uma opção de câmera de visão mecânica que permite o auto-reconhecimento em características de superfície precisamente escolhidas, com pouca ou nenhuma interação do usuário. O software de fácil utilização e a câmera de visão mecânica opcional permitem um escaneamento automático da superfície para reconhecer todas as características de interesse. Estas características podem então ser medidas automaticamente ou o usuário pode selecionar a partir de uma lista a partir da qual medir. A combinação de características gerais superiores faz com que o HS1000 Profilômetro Inquestionavelmente, o instrumento de escolha para demandas de alto rendimento encontradas nas indústrias Semicondutora, Solar e Farmacêutica. "Escusado será dizer a importância de obter a escolha deste cliente. Estou orgulhoso da capacidade de nossa equipe de entregar com uma oportunidade tão importante", disse Craig Leising, Gerente de Produto da Nanovea.

O Nanovea Profilometer recebe aprovação de sala limpa "Classe 1

Irvine, CA, 22 de janeiro de 2009 - A Nanovea Inc. anunciou hoje a instalação bem-sucedida de seu Profilômetro dentro da sala limpa Classe 1 de um fabricante líder em micro-eletrônica. A Classe 1 de limpeza é conhecida por sua estrita conformidade e demanda personalizada para todos os materiais utilizados no desenvolvimento do instrumento. As avançadas capacidades de perfilagem 3D sem contato dos Profilômetros Nanovea serão agora uma opção para as mais rigorosas exigências de salas limpas microeletrônicas. Com o uso de estágios lineares motorizados "limpos" e a seleção adequada de materiais, os engenheiros da Nanovea projetaram um sistema personalizado que seria compatível com as rigorosas normas de classe 1. As salas limpas classe 1 têm um nível de contaminação rigorosamente controlado e permitem muito poucas partículas de qualquer tipo. A seleção do material foi crucial no projeto dos estágios X-Y para que poucas partículas fossem emitidas para o ar durante os testes. O sistema também foi projetado com um alto grau de planicidade, precisão e com um nível de automação que permite ao usuário medir múltiplas áreas e costurá-las juntas. Isto permitirá ao usuário criar uma superfície grande e plana para comparar a planicidade relativa com muito pouca interação do usuário. A área mensurável do perfilador personalizado pode ser de até 30cm x 30cm com resolução vertical até 2nm. Um projeto também está disponível para escanear peças grandes, pesadas e até imutáveis. Isto é apenas um vislumbre dos projetos que os engenheiros da Nanovea customizaram. Eles também forneceram um Profilômetro de alta velocidade construído sob medida com velocidades superiores a 30.000 pontos/segundo e visão mecânica com reconhecimento de imagem para melhorar a eficiência. Além disso, o Profilômetro Profilômetro foram construídos com recursos de escaneamento personalizados para adquirir medidas de superfície tanto da superfície superior quanto da inferior enquanto mede a espessura do material, tudo com resolução nanométrica. "A adição do design da sala limpa permitirá que a Nanovea trabalhe mais perto com ambientes rigorosos, e mais uma vez mostra nossa dedicação à engenhosidade". Disse Craig Leising, gerente de produto da Nanovea, Inc.