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AR Categoria: Profilometria | Altura e Espessura dos degraus
Filme Transparente sobre Medição de Substrato Transparente
O Nanovea PS50 Profilometer é utilizado para a medição de rugosidade, espessura de degraus e espessura óptica de uma fina película transparente sobre um substrato de vidro transparente. A altura do degrau será obtida medindo uma área do filme e uma área onde o substrato é exposto por diferença de altura relativa, enquanto que a espessura óptica será medida usando o Profilometer capacidade de medir através do filme transparente e detectar um reflexo tanto da superfície superior do filme quanto do substrato simultaneamente.
Película transparente na medição de substrato transparente usando a profilometria 3D
Medição da profundidade de micro-riscos usando a Profilometria 3D
Nesta aplicação, o Nanovea ST400 Profilometer é utilizado para medição de profundidade de uma fileira de micro riscos criados usando o Nanovea Testador Mecânico no modo zero. Em segundos, o perfilômetro, com uma única passagem de linha no modo 2D, fornece medição de área e profundidade.
Medição de Profundidade de Micro-rachaduras usando a Profilometria 3D
