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표면 단차 높이 측정 | 깊이 및 두께

프로파일로미터 기기 | 실험실 서비스 | 크로마틱 공초점 | 애플리케이션 노트

크로마틱 공초점 기술은 60nm에서 20mm까지의 스텝 높이를 가장 정확하게 측정할 수 있습니다. 두께를 정확하게 측정하는 이 기술의 장점은 공초점 기술이 코팅에서 기판으로 이동할 때 볼 수 있는 반사율이나 텍스처의 큰 변화에 영향을 받지 않는다는 사실에 있습니다. 광학 투명 층의 두께도 비슷한 해상도와 범위(> 7μm)로 측정할 수 있습니다.

 

표준:

  • ISO 5436-1

 

표준 측정 분석:

  • 포인트 투 포인트
  • 비행기 간 이동
  • 최대, 최소 및 평균 높이
  • 두께의 3D 또는 2D 맵
  • 두께 분포 곡선

 

소프트웨어 기능:

  • 쉽게 정의된 선 또는 영역 스캔
  • 레시피
  • 측면 해상도
  • 원시 데이터 및 이미지 내보내기
  • 실시간 디스플레이
  • 자동 보고
  • 다국어 지원
  • 매핑

 

분석 소프트웨어 기능:

  • 필터링
  • 레벨링
  • 임계값
  • 확대/축소
  • 영역 선택 및 양식 제거 도구
  • 함수 빼기 및 비교 및 기타 여러 기능

 

고급 자동화:

  • 자동 초점(광학 및 현미경), 자동 분석 템플릿
  • 다중 샘플 처리 매크로
  • 프로파일링 또는 AFM 테스트를 위한 현미경 영역의 손쉬운 선택
  • 다양한 반사율을 가진 표면을 위한 자동 이중 주파수
  • 회전 단계
  • 패턴 인식
  • 데이터베이스 커뮤니케이션
  • 합격/불합격 제한
  • 최대 200배 빠른 측정을 위한 라인 센서

 

샘플 보유자 및 환경 조건:

  • 맞춤형 및 표준 샘플 홀더
  • 가열 단계

 

추가 표면 측정:

표면 거칠기 측정

표면 프로파일 측정

표면 지형 측정

표면 평탄도 측정

표면 부피 측정