Profilometria · Misura della rugosità superficiale

Misura della rugosità superficiale: tecniche e strumenti

La rugosità superficiale si misura rilevando o scansionando l’altezza di una superficie e filtrando poi il risultato in parametri di rugosità, come Ra e Rz per i profili o Sa e Sq per le aree. Rugosimetri a tastatore, profilometri ottici e microscopi a forza atomica lo fanno tutti, con limiti diversi di velocità, pendenza, materiale e scala. NANOVEA misura la rugosità con sensori confocali cromatici a luce bianca, senza contatto, su qualsiasi materiale, dalle finiture nanometriche alle tessiture ruvide millimetriche.

Principio della profilometria confocale cromatica: luce bianca scomposta per lunghezza d’onda, focalizzata sulla superficie e misurata da uno spettrometro

In sintesi

Tecnica
Confocale cromatico a luce bianca: l’altezza si legge direttamente dalla lunghezza d’onda a fuoco, misurata da uno spettrometro.
Campo di altezza
Sensori puntuali con campo da 110 µm a 24 mm (da PS1 a PS6); sensori lineari da 200 µm a 3,9 mm.
Risoluzione
Ripetibilità in altezza fino a 1,9 nm, risoluzione verticale massima di 1 nm, risoluzione laterale inferiore a 0,5 µm.
Qualsiasi superficie
Superfici trasparenti, riflettenti, scure, morbide o ripide, con pendenze fino a 87°, senza preparazione del campione.
Velocità
I sensori lineari ad alta velocità acquisiscono fino a 384.000 punti/s; le scansioni continue non richiedono unione di immagini.
Parametri
Di profilo (Ra, Rq, Rz…) e areali ISO 25178 (Sa, Sq, Sz, Spk, Svk…) dalla stessa misura.

Perché si misura la rugosità

La rugosità determina come le superfici tengono, scorrono, si usurano, aderiscono, riflettono la luce e resistono alla corrosione. Viene specificata nei disegni, controllata in produzione e studiata nella ricerca su rivestimenti, impianti, polimeri e materiali naturali. Un valore di rugosità ha senso solo insieme al metodo: quale tecnica ha misurato la superficie, su quale lunghezza o area e con quale filtro.

Come si misura la rugosità

Ogni metodo rileva le altezze della superficie, lungo una linea per la rugosità di profilo o su un’area per la rugosità areale. I dati grezzi vengono poi livellati, la forma viene rimossa e un filtro separa l’ondulazione dalla rugosità. Da ciò che resta si calcolano i parametri: Ra, Rq e Rz per i profili secondo ISO 21920-2 (in precedenza ISO 4287), e Sa, Sq, Sz e la famiglia funzionale Spk/Sk/Svk per le aree secondo ISO 25178-2. La pagina rugosità e finitura spiega ogni parametro.

Le tecniche di misura a confronto

  • Profilometria a tastatore. Una punta di diamante viene trascinata sulla superficie. Consolidata ed economica, ma lenta per le mappe 3D; può segnare superfici morbide o fragili, non risolve dettagli più stretti della punta e la punta si consuma nel tempo.
  • Interferometria. L’interferenza della luce misura l’altezza con risoluzione molto alta sulle superfici lisce, il che la rende forte per i gradini in microelettronica. Campo visivo e campo di misura sono limitati, le aree più grandi richiedono l’unione di immagini, è sensibile alle vibrazioni e le superfici devono riflettere abbastanza luce.
  • Triangolazione laser. Veloce, adatta a superfici ruvide e pezzi più grandi; la precisione dipende dal materiale e dalle occlusioni, quando elementi ripidi nascondono lo spot.
  • Variazione di fuoco. Costruisce un’immagine 3D da una pila di piani focali. Veloce e valida sulle pendenze ripide, ma ha bisogno di tessitura per trovare il fuoco, e gli algoritmi di ricostruzione influiscono sulla precisione su superfici lisce o molto riflettenti.
  • Microscopia confocale laser. Ricostruisce la superficie da sezioni ottiche: veloce su campi piccoli e capace su angoli complessi, con le aree più grandi ottenute per unione.
  • Confocale cromatico a luce bianca. Ogni lunghezza d’onda va a fuoco a un’altezza diversa, e uno spettrometro legge la lunghezza d’onda a fuoco, che dà direttamente l’altezza. Misura superfici trasparenti, riflettenti, scure e ripide, e scansiona grandi aree in continuo senza unione di immagini.
  • Microscopia a forza atomica. Una sonda sottile rileva la superficie su scala nanometrica, con la migliore risoluzione laterale in assoluto, su aree di alcune decine di micrometri. È adatta a superfici lucidate e nanostrutturate più che a pezzi.

Scegliere una tecnica

Si parte dalla superficie e dalla specifica. Superfici molto lisce su aree piccole indirizzano verso AFM o interferometria. Superfici grandi, ruvide, ripide o miste, strati trasparenti e materiali morbidi indirizzano verso i sensori confocali cromatici, che coprono anche finiture nanometriche nei campi più fini. Le linee di produzione richiedono velocità e una decisione conforme/non conforme. In ogni caso il campo del sensore deve superare la variazione di altezza della superficie, e il campionamento laterale deve essere abbastanza fine per la lunghezza d’onda più corta filtrata dalla specifica.

Come misura la rugosità NANOVEA

I profilometri NANOVEA usano sensori confocali cromatici in tutta la gamma. I sensori puntuali da PS1 a PS6 coprono campi di altezza da 110 µm a 24 mm, con ripetibilità in altezza a partire da 1,9 nm (PS1); i sensori lineari ad alta velocità proiettano 192 punti alla volta e acquisiscono fino a 384.000 punti/s. Le piattaforme differiscono per dimensioni e impiego: il PS50 per postazioni compatte, l’ST400 come sistema da laboratorio standard, l’ST500 per grandi aree, i portatili JR25 e JR100 per il campo, l’AFM Pro per la rugosità su scala nanometrica e il profilometro in linea per la produzione.

Cosa fornisce l’analisi

  • Analisi standard: parametri di profilo e areali (Ra/Sa, Rq/Sq, Rz/Sz, Rv/Sv, Rsk/Ssk, Rku/Sku e altri), ondulazione, conteggio dei picchi, conteggio e classificazione dei grani, direzione della tessitura, isotropia, autocorrelazione e spettro di potenza.
  • Analisi avanzata: analisi dei motivi (colline e valli significative), analisi spettrale dei motivi periodici, vettorizzazione di micro-valli e solchi, e dimensione frattale.
  • Metodi di settore: parametri del rapporto di materiale per componenti automobilistici, torsione delle superfici di tenuta degli alberi motore secondo Mercedes-Benz MBN 31007-7, profondità di grana e ampiezza di finitura delle plastiche secondo Renault D45-1856, e misura delle rughe in cosmetica.
  • Flusso di lavoro: ricette per misure ripetibili, filtraggio, livellamento, rimozione della forma, sottrazione e confronto di superfici, report automatici ed esportazione dei dati grezzi.

Norme

NormaAmbito
ISO 25178-2Specifiche geometriche dei prodotti — Stato della superficie: areale — Termini, definizioni e parametri

Parametri di rugosità areali (3D) come Sa, Sq, Sz e la famiglia Spk/Sk/Svk.

ISO 21920-2Specifiche geometriche dei prodotti — Stato della superficie: profilo — Termini, definizioni e parametri

Norma attuale di profilo (2D), che dal 2021 sostituisce ISO 4287 e ISO 13565-2.

ISO 4287 / ISO 13565-2Parametri di profilo e parametri del rapporto di materiale (Rk) (norme precedenti)

Ancora molto citati nei disegni e nelle specifiche dei fornitori; sono disponibili entrambi i set di parametri.

ASME B46.1Tessitura superficiale (rugosità, ondulazione e orientamento)

Specifica statunitense della rugosità; sono supportati gli equivalenti nazionali (GB/T, DIN, JIS, NF, BSI, UNI, UNE).

I limiti dei parametri dello strumento possono differire da quelli specificati in ciascuna norma. Chiedici quale sensore e quali impostazioni sono adatti alla tua specifica.

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Domande frequenti

Come si misura la rugosità superficiale?

L’altezza della superficie viene rilevata lungo una linea (un profilo) o su un’area, con un tastatore, un sensore ottico o un microscopio a forza atomica. Forma e ondulazione vengono poi separate dalla rugosità mediante filtraggio, e si calcolano i parametri di rugosità: Ra, Rq e Rz per i profili (ISO 21920-2, in precedenza ISO 4287), Sa, Sq e Sz per le aree (ISO 25178-2).

Che differenza c’è tra misura di rugosità a contatto e senza contatto?

Un tastatore trascina una punta di diamante sulla superficie: è consolidato ed economico, ma lento per le mappe 3D; può segnare superfici morbide o delicate, la punta si consuma e non risolve dettagli più stretti della punta. I metodi ottici senza contatto misurano con la luce, quindi nulla tocca la superficie e le aree 3D si scansionano rapidamente; ogni tecnica ottica ha i propri limiti di pendenza, riflettività e campo.

Che cos’è la profilometria confocale cromatica?

Una tecnica senza contatto in cui la luce bianca viene scomposta per lunghezza d’onda lungo l’asse ottico, così ogni colore va a fuoco a un’altezza diversa. Uno spettrometro legge quale lunghezza d’onda è a fuoco sulla superficie, e questo fornisce direttamente l’altezza, senza ricostruirla da immagini. Misura superfici trasparenti, riflettenti, scure e ripide, e grandi aree senza unione di immagini. Vedi <a href="/chromatic-confocal/">confocale cromatico</a>.

Quale tecnica per superfici molto lisce e lucidate?

Per finiture nanometriche, l’interferometria e la microscopia a forza atomica offrono la massima risoluzione in altezza, e l’AFM la migliore risoluzione laterale, su aree piccole. I sensori confocali cromatici arrivano a 1 nm in verticale con 1,9 nm di ripetibilità sul campo più fine e coprono aree molto più grandi; l’<a href="/instruments/afmpro/">AFM Pro</a> unisce le due cose su un’unica piattaforma.

Ra o Sa: quale riportare?

Ra è una media su un singolo profilo ed è ciò che la maggior parte dei disegni ancora specifica. Sa è l’equivalente areale, mediato su tutta una superficie, e dipende meno da dove cade una singola linea. Una misura 3D fornisce entrambi: una specifica in Ra può essere rispettata mentre i parametri areali descrivono la superficie in modo più completo.

Si può misurare la rugosità su una linea di produzione?

Sì. Il <a href="/instruments/in-line-profiler/">profilometro in linea</a> NANOVEA misura con più sensori cromatici a oltre 1.300.000 punti/s, in modalità triggerata o continua, con decisione conforme/non conforme per sensore o sulla media di tutti i sensori.