OBERFLÄCHENPROFIL | DIMENSIONALE MESSUNG
Profilometer-Instrumente | Labor-Dienstleistungen | Chromatisch Konfokal | Application Notes
Mit einem großen Höhenbereich von bis zu 25 mm und der Möglichkeit, steile Winkel zu messen, ist die chromatische Konfokaltechnik ideal für viele Dimensionsmessungen von Oberflächenprofilen, einschließlich Anwendungen wie Mikrolinsen und Präzisionswerkzeuge. Da bei großen Oberflächen kein Stitching erforderlich ist, kann die chromatisch konfokale Technik zur sekundenschnellen Messung von Abmessungen mit einem einzigen Profil verwendet werden. Mit Mustererkennung und Automatisierung sowie Pass-Fail-Bedingungen und Datenbankkommunikation kann das Gerät als fortschrittliches Qualitätskontrollinstrument eingesetzt werden.
Normen:
- ISO 5436-1
Analyse von Standardmessungen:
- Maximale, minimale und mittlere Höhen
- Breite
- Entfernung
- Radius
- Neigung
- Mittelpunkt und Menge eines bestimmten Merkmals
- Punkt zu Punkt
- Ebene zu Punkt
- Von Flugzeug zu Flugzeug
Software-Merkmale:
- Einfach zu definierende Linien- oder Flächenscans
- Rezepte
- Seitliche Auflösung
- Rohdaten und Bilder exportieren
- Anzeige in Echtzeit
- Automatische Berichterstattung
- Unterstützung mehrerer Sprachen
- Kartierung
Analyse-Software-Funktionen:
- Filtern
- Nivellierung
- Schwellenwert
- Zoomen
- Werkzeuge zur Bereichsauswahl und Formularentfernung
- Subtraktions- und Vergleichsfunktionen und viele andere
Erweiterte Automatisierung:
- Automatischer Fokus (optisch und mikroskopisch), automatische Analyseschablone
- Makros zur Handhabung mehrerer Proben
- Einfache Auswahl des Bereichs unter dem Mikroskop für die Profilerstellung oder AFM-Prüfung
- Automatische Doppelfrequenz für Oberflächen mit unterschiedlichen Reflexionsgraden
- Rotationsphase
- Mustererkennung
- Datenbank-Kommunikation
- Pass/Fail-Grenzen
- Zeilensensoren für bis zu 200-mal schnellere Messungen
Halter der Probe(n) und Umweltbedingungen:
- Kundenspezifische und Standard-Probenhalter
- Heizstufe
Zusätzliche Oberflächenabmessungen:
Messung der Oberflächenrauhigkeit
Messung der Oberflächentopographie
Messung der Oberflächenebenheit