KO 
EN 
ES 
DE 
FR 
IT 
ZH 
JA 
PT 
TR 
PL 
AR 카테고리: 프로파일 측정 | 부피 및 면적
Jr25 3D 비접촉식 프로파일로미터의 휴대성과 유연성
샘플 표면을 이해하고 정량화하는 것은 품질 관리 및 연구를 포함한 많은 응용 분야에서 매우 중요합니다. 표면을 연구하기 위해 프로파일로미터를 사용하여 샘플을 스캔하고 이미지화하는 경우가 많습니다. 기존의 프로파일 측정 장비의 큰 문제는 비 전통적인 샘플을 수용할 수 없다는 것입니다. 샘플 크기, 기하학적 구조, 샘플 이동 불가능 또는 기타 불편한 샘플 준비로 인해 비 전통적인 샘플을 측정하는 데 어려움이 발생할 수 있습니다. 나노베아의 휴대용 3D 비접촉 프로파일로미터JR 시리즈는 다양한 각도에서 샘플 표면을 스캔하는 기능과 휴대성으로 이러한 문제의 대부분을 해결할 수 있습니다.
방전 가공 금속의 품질 분석
방전 가공(EDM)은 전기 방전을 통해 재료를 제거하는 제조 공정입니다.
방전 [1]. 이 가공 공정은 일반적으로 전도성 금속을 가공하기 어려운 경우에 사용됩니다.
를 기존 방식으로 기계화할 수 있습니다.
모든 가공 공정과 마찬가지로, 허용 가능한 기준을 충족하려면 정밀도와 정확도가 높아야 합니다.
허용 오차 수준. 이 애플리케이션 노트에서는 가공된 금속의 품질을 다음과 같이 평가합니다.
나노베아 3D 비접촉 프로파일로미터.
폴리카보네이트 렌즈에 대해 더 자세히 알아보기
폴리카보네이트 렌즈에 대해 더 자세히 알아보기
자세히 알아보기
폴리카보네이트 렌즈는 일반적으로 많은 광학 애플리케이션에 사용됩니다. 내충격성이 높고 무게가 가벼우며 대량 생산 비용이 저렴하기 때문에 다양한 애플리케이션에서 기존 유리보다 실용적입니다[1].
이러한 응용 분야 중 일부는 플라스틱을 사용하지 않으면 충족하기 어려운 안전성(예: 보안경), 복잡성(예: 프레넬 렌즈) 또는 내구성(예: 신호등 렌즈) 기준을 필요로 합니다. 충분한 광학 품질을 유지하면서 많은 요구 사항을 저렴하게 충족할 수 있는 능력 덕분에 플라스틱 렌즈는 해당 분야에서 두각을 나타내고 있습니다. 폴리카보네이트 렌즈에도 한계가 있습니다. 소비자의 주요 관심사는 쉽게 긁힐 수 있다는 점입니다. 이를 보완하기 위해 스크래치 방지 코팅을 적용하기 위해 추가 공정을 수행할 수 있습니다.
나노비아는 세 가지 계측 장비를 활용하여 플라스틱 렌즈의 몇 가지 중요한 특성을 살펴봅니다: 프로파일 미터, 트라이보미터및 기계 테스터.
자세히 보려면 클릭하세요!
실리콘 카바이드 웨이퍼 코팅의 기계적 특성
실리콘 카바이드 웨이퍼 코팅의 기계적 특성을 이해하는 것은 매우 중요합니다. 마이크로 전자 장치의 제조 공정에는 300개 이상의 다양한 공정 단계가 포함될 수 있으며 6주에서 8주까지 소요될 수 있습니다. 이 과정에서 웨이퍼 기판은 어느 한 단계라도 실패하면 시간과 비용 손실로 이어지기 때문에 극한의 제조 조건을 견딜 수 있어야 합니다. 테스트 대상 경도웨이퍼의 접착력/스크래치 저항성 및 COF/마모율은 제조 및 적용 과정에서 부과되는 조건을 견뎌내고 고장이 발생하지 않도록 특정 요구 사항을 충족해야 합니다.
내부 파이프 부식의 복제 성형
금속 파이프의 표면 마감은 제품 품질과 성능에 매우 중요합니다. 부식 과정이 진행됨에 따라 금속 표면에 녹이 점진적으로 쌓이고 구덩이가 시작되고 성장하여 파이프 표면이 거칠어집니다. 금속 간의 갈바닉 특성 차이, 용액의 이온 영향, 용액 pH 등이 모두 파이프 부식 프로세스에 영향을 미쳐 다양한 표면 특징을 가진 부식된 금속을 생성할 수 있습니다. 부식된 표면의 정확한 표면 거칠기 및 텍스처 측정은 특정 부식 프로세스와 관련된 메커니즘에 대한 통찰력을 제공합니다. 기존의 프로파일로미터는 부식된 내부 파이프 벽에 접근하여 측정하는 데 어려움이 있습니다. 레플리카 몰딩은 비파괴 방식으로 내부 표면 특징을 복제하여 솔루션을 제공합니다. 부식된 파이프의 내벽에 쉽게 적용할 수 있으며 15분 안에 경화됩니다. 레플리카 몰딩의 복제된 표면을 스캔하여 내부 파이프 벽의 표면 형상을 얻습니다.
3D 프로파일 측정을 이용한 탄소 및 제올라이트 촉매의 표면 분석
이 애플리케이션에서 나노베아 ST400 프로파일 미터 는 탄소 및 제올라이트 촉매의 표면을 측정하는 데 사용됩니다. 측정된 면적은 무작위로 선택되었으며, 훨씬 더 큰 표면에 대한 가정을 할 수 있도록 충분히 큰 것으로 가정했습니다. 표면 거칠기와 개발 면적은 사용 가능한 표면적을 특성화하는 데 사용됩니다.
피트 부식 밀도, 면적, 부피, 크기 및 모양
이 애플리케이션에서 나노베아 ST400 프로파일 미터 는 부식된 스테인리스 스틸 쿠폰의 표면을 측정하는 데 사용됩니다. 측정된 면적은 무작위로 선택되었으며, 가정을 위해 추정할 수 있을 정도로 충분히 큰 것으로 가정했습니다.
훨씬 더 큰 표면에 대해. 여기에서는 밀도, 면적, 부피, 크기 및 모양을 사용하여 부식 수준을 정량화합니다.
