PROFIL POWIERZCHNIOWY | POMIAR WYMIAROWY

Dzięki szerokiemu zakresowi wysokości do 25 mm i możliwości pomiaru stromych kątów, chromatyczna technika konfokalna jest idealna do wielu pomiarów wymiarów profili powierzchniowych, w tym do zastosowań takich jak mikrosoczewki i narzędzia precyzyjne. Ponieważ w przypadku dużych powierzchni nie jest wymagane zszywanie, chromatyczna technika konfokalna może być stosowana do pomiaru wymiarów w ciągu kilku sekund przy użyciu jednego profilu. Dzięki rozpoznawaniu wzorców i automatyzacji, a także warunkom "pass fail" i komunikacji z bazą danych, urządzenie może być wykorzystywane jako zaawansowane narzędzie kontroli jakości.

Normy:

• ISO 5436-1

Analiza pomiarów standardowych:

• Wysokość maksymalna, minimalna i średnia
• Szerokość
• Odległość
• Promień
• Nachylenie
• Punkt środkowy i ilość określonego elementu
• Od punktu do punktu
• Samolot do punktu
• Samolot do samolotu

Cechy oprogramowania:

• Łatwe do zdefiniowania skanowanie linii lub obszaru
• Przepisy
• Rozdzielczość boczna
• Eksportowanie surowych danych i obrazów
• Wyświetlacz czasu rzeczywistego
• Automatyczne raportowanie
• Obsługa wielu języków
• Mapowanie

Cechy oprogramowania analitycznego:

• Filtrowanie
• Leveling
• Progowanie
• Zooming
• Narzędzia do wyboru obszaru i usuwania formularzy
• Funkcje odejmowania i porównywania oraz wiele innych

Zaawansowana automatyka:

• Automatyczna ostrość (optyczna i mikroskopowa), automatyczny szablon analizy
• Makra obsługi wielu próbek
• Łatwy wybór obszaru pod mikroskopem do profilowania lub badania AFM
• Automatyczna podwójna częstotliwość dla powierzchni o różnej refleksyjności
• Stopień rotacyjny
• Rozpoznawanie wzorów
• Komunikacja z bazą danych
• Limity zaliczeń
• Czujniki liniowe zapewniające do 200 razy szybsze pomiary

Posiadacz(e) próbek i warunki środowiskowe:

• Niestandardowe i standardowe uchwyty do próbek
• Stopień ogrzewania

Dodatkowe pomiary powierzchni:

Pomiar chropowatości powierzchni

Pomiar topografii powierzchni

Pomiar płaskości powierzchni

Pomiar objętości powierzchni

Pomiar wysokości uskoku na powierzchni