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AR 月度档案。9 月 2013
访问迪拜纳米技术展上的Nanovea分销商
10月28-30日｜迪拜，阿联酋。 迪拜纳米技术展汇集了纳米技术领域领先的科学家、研究人员、工程师、从业人员、技术开发人员和政策制定者，交流他们的最新研究进展、创新和商业机会。它是国际监管政策方面最重要的活动之一。 ►2013年迪拜纳米技术展
使用微划痕测试进行涂层失效分析
我们必须模拟出 划痕测试 在一个受控和监测的方式下，观察涂层失效分析。在这个应用中，Nanovea机械测试仪在其微划痕模式下，被用来测量导致三个单独加工的DLC涂层失效所需的负载。一个90°锥度，20μm的金刚石针头被用来在0.01mN到15N的渐进负荷下刮擦DLC涂层。涂层因开裂而失效的点被视为失效点。
使用摩擦仪测量润滑脂的机械稳定性
Nanovea针式磁盘 摩擦仪 将在旋转模式下使用，也可以使用线性模式。一个钢球头将被用来对付一个涂有复合锂基润滑脂的钢样。使用的负载为5N，恒定速度为150rpm。两种单独配方的复合锂基润滑脂将被测试以进行比较评估。
以下是我们这个月测试的材料的例子。
机械。
- 钢材的纳米压痕应力应变
- 微型零件的纳米压痕屈服强度
- 聚合物的纳米压痕刚度
- 光学涂层的纳米划痕
- 油漆涂层的微划痕
- dlc涂层的宏观压痕
- dlc涂层的宏观划痕
三维非接触式轮廓测量法。
- 凝胶表面的拓扑结构
- 注塑模具的粗糙度
- 硅胶样品的质地
- 晶片阵列的平整度和共面性
- 光罩的台阶高度
- 微型零件的尺寸
- dlc涂层的浸没式磨损测试
- 磨损测试硅涂层
- 摩擦测试智能玻璃样品
使用三维轮廓测量法测量晶圆的平面度
在此应用中，Nanovea ST400 轮廓仪 是用来测量晶圆阵列的截面的。测量的面积是随机选择的，并假定其足够大，以便可以推断出更大的表面的假设。表面 平面度测量剖析表面时，使用了平面性和其他表面参数。
MS&T 2013
MS&T | 10月29日至30日，加拿大魁北克省蒙特利尔市。由ACerS、AIST、ASM、MetSoc和TMS组成的MS&T伙伴关系将科学家、工程师、学生、供应商等聚集在一起，讨论当前的研究和技术应用，并塑造材料科学和技术的未来。NACE国际将共同赞助MS&T'13。 www.matscitech.org
