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石英晶体微天平的表面处理

可靠的质量控制在很大程度上依赖于准确、可量化和可重复的表面检测。石英晶体微天平（QCM）表面的平整度和光洁度对其准确性至关重要，这两种三维测量保证了适当的制造加工和控制措施。与触摸式探针技术不同，Nanovea 轮廓仪 对样品进行三维非接触表面测量。这消除了在QCM表面产生微细划痕的风险，这些划痕可能导致质量测量的不准确或误差。

表面处理石英晶体微天平