月度档案。1 月 2005

Micro Photonics公司推出双扫描轮廓仪和扫描仪器

2005年1月25日，加利福尼亚州欧文市--Micro Photonics公司今天宣布其表面材料测试仪器系列的最新成员。双扫描轮廓仪是同类仪器中的第一款，可同时进行厚度和双轮廓扫描。固定在两支笔之间的平台上，样品台在X-Y方向移动，允许两个探头确定一个同步的表面轮廓。系统软件计算两支笔之间的已知距离，以及从样品表面反射的入射白光的波长，以确定样品在任何特定点的厚度。利用色差原理，两支笔将白光穿过物镜，并将该光从样品表面反射出去。然后镜头收集入射白光的波长，并将其重新聚焦在离镜头的可变距离内。这项独家技术可从Micro Photonics公司获得。Micro Photonics公司十二年来一直是材料技术仪器和实验室测试的领先供应商。该公司专门从事。纳米和微观机械测试、X射线微断层扫描、椭圆测量、X射线衍射、3D非接触式 轮廓仪显微镜、薄膜分析、生物成像仪器和NSOM、SPM和AFM系统。