美国/全球:+1-949-461-9292
欧洲。+39-011-3052-794
联系我们

使用三维轮廓仪进行表面粗糙度统计分析

在此应用中,Nanovea ST400 轮廓仪 是用来测量30多个具有类似表面特征的试样,只有轻微的差异。对这些表面的参数进行了分析,如 表面粗糙度最大高度、最大峰值高度和均方根。然后使用直方图、表格、控制图、箱形图和其他方法进行了统计分析。
散点图。

使用三维轮廓仪进行表面粗糙度统计分析

评论