月度档案。10 月 2008

Nanovea正在申请专利的非接触式光学深度感应技术

2008年10月20日，加利福尼亚州欧文市--Nanovea已经申请了用于仪器压痕和划痕测试的非接触式光学深度感应专利。这种 "革命性 "的非接触技术在微/宏观划痕和硬度测试中提供100%的精确高度测量。在这一新进展之前，任何测试都需要机械表面接触，这在样品移动期间是不可能的，以考虑到基材和机器的顺应性。现在，由于能够观察到压头的精确深度而无需接触，样品运动不再是一个问题，可以直接记录压头的真实深度。"我们对我们的新技术感到非常兴奋，并期待着展示其卓越的结果，"Micro Photonics表面测试部总经理Pierre Leroux说。"我们一直在寻找新的方法，以提供与他们的解决方案一样先进的仪器；我认为这项技术正是这样做的。"高精度模块用于确定薄/厚涂层和基材的微/宏观机械性能，使用仪器压痕和划痕/附着力测试。它们是工业涂层表征的理想选择；从用于半导体和光学技术的等离子处理层，到用于汽车部件和消费品的装饰和保护涂层。纳诺瓦微/宏观 微纳米力学测试系统 使用独立的力和深度传感器来获得用于仪器压痕和划痕测试的深度与载荷曲线。其结果是业界最快和最准确的测量技术，能够测量任何形状和质地的材料，并解决了与旧的压头高度测量方法有关的挑战，如在软材料上的下沉和在粗糙表面上的参考移动。