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石英晶体基材上的金涂层附着力

作为一种极其精确的设备，石英晶体微天平（QCM）测量的质量变化低至0.1纳克。石英板上电极的任何质量损失或分层都会被石英晶体检测到，并导致重大测量误差。因此，电极金涂层的内在质量和涂层/基底系统的界面完整性在进行准确和可重复的质量测量中起着至关重要的作用。该 微量划痕试验 是一种广泛使用的比较性测量，根据比较出现故障的临界载荷来评估涂层的相对内聚力或粘附性。它是对QCM进行可靠的质量控制的一个优越工具。

石英晶体基材上的金涂层附着力